专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种基于透明薄膜晶体管的光电探测阵列及其制备方法-CN202110617238.9在审
  • 沈亮;王亚茜;周航;向犇;纪永成;魏薇 - 吉林大学
  • 2021-06-03 - 2021-09-07 - H01L27/30
  • 一种基于透明薄膜晶体管的光电探测阵列及其制备方法,属于光电探测技术领域。所述光电探测阵列由透明薄膜晶体管阵列以及与其漏端电极相连的光电探测组成。本发明通过首先制备透明薄膜晶体管阵列,将其作为底板,在其上分别通过溶液法旋涂ZnO电子传输层以及PTB7‑TH:FOIC有源层,将样品盖上阵列掩模版后分别蒸镀MoO3空穴传输层和Ag金属电极,由此制得光电探测阵列。本发明制备的光电探测阵列具有超低的暗电流,相比于在ITO玻璃上制备的单节光电探测暗电流密度下降两个数量级,同时透明薄膜晶体管相比于传统薄膜晶体管,可以有效提升透光率,实现的探测阵列具有低暗电流、高响应度、高探测率以及弱光敏感的特点。
  • 一种基于透明薄膜晶体管光电探测器阵列及其制备方法
  • [发明专利]一种核探测晶体位置的识别方法和装置-CN201410772024.9在审
  • 梁国栋;吴国城;李楠;赵健;徐保伟;付长青 - 沈阳东软医疗系统有限公司
  • 2014-12-11 - 2015-04-29 - G01T1/202
  • 本发明实施例公开了一种核探测晶体位置的识别方法,所述方法包括:当晶体阵列被射线的光子击中后,获取晶体阵列对应的光电探测像素阵列的各通道的能量输出值;根据所述能量输出值确定所述光电探测像素阵列中第一光电探测像素的绝对位置坐标;根据所述能量输出值确定第一光电探测像素对应的晶体单元的相对位置坐标;根据所述晶体单元的所述相对位置坐标和所述第一光电探测像素的绝对位置坐标计算所述晶体单元在所述光电探测像素阵列对应的晶体阵列中的位置坐标,以实现核探测晶体位置的识别。本发明实施例还公开了一种核探测晶体位置的识别装置。本发明有效提高了核医学设备的空间分辨率,提升了图像的质量。
  • 一种探测器晶体位置识别方法装置
  • [发明专利]一种用于前向衍射光光强分布测量的对中装置及方法-CN201310325251.2有效
  • 徐立军;曹章;魏天啸;蔡小舒 - 北京航空航天大学
  • 2013-07-30 - 2013-11-27 - G01N15/02
  • 本发明涉及一种用于前向衍射光光强分布测量的对中装置及方法,其特征在于所述对中装置包括光电探测阵列、精密三维位移平台、x向调整电路和y向调整电路。光电探测阵列上有用于对中的两个四分之一圆环硅光电探测和两个二分之一圆环硅光电探测对称位于光电探测阵列接收光强变化最快位置的附近,两个二分之一圆环硅光电探测输出信号给y向调整电路,两个四分之一圆环硅光电探测输出信号给x向调整电路;光电探测阵列固定在精密三维位移平台上;通过三维位移平台在x轴方向和y轴方向上精密调节光电探测阵列的位置,使x向调整电路的输出和y向调整电路的输出归零来完成光电探测阵列的对中。
  • 一种用于衍射光光分布测量装置方法
  • [发明专利]阵列光电探测测试系统-CN202110181100.9有效
  • 张观欣;赵向凯;张晓洁;席晓理;陈潞;李冬梅 - 中国科学院半导体研究所
  • 2021-02-08 - 2023-03-10 - G01D18/00
  • 本发明提供了一种阵列光电探测测试系统,包括探测安装阵列、光照阵列、测试光源、稳压电源、AD采集模块、高压直流电源和上位机软件,其中,探测安装阵列,包括M×N组探测测试座,用于将多个光电探测阵列的方式进行安装;光照阵列,包括M×N组准直镜头,用于为光电探测提供光照;上位机软件,对探测安装阵列、测试光源、稳压电源、AD采集模块、高压直流电源等进行控制,以实现自动化测试。本发明可以大幅提高光电探测测试速度,实现自动化测试,特别是在高低温箱内或其他密闭环境下测试时,无法打开高低温箱进行单个光电探测的更换时,通过本发明进行电子切换进行轮循测试可提高测试效率。
  • 阵列光电探测器测试系统
  • [发明专利]飞行时间设备-CN201780090347.1有效
  • 帕特瑞克·杜麦思 - 华为技术有限公司
  • 2017-05-11 - 2021-10-22 - G01S17/10
  • 一种飞行时间设备包括发送和接收。发送包括用于提供激光脉冲的激光和耦合到激光的光学相控阵列,该光学相控阵列用于接收激光脉冲并提供从光学相控阵列扇出的多个光束。接收包括用于接收来自多个光束的散射光的光接收单元以及耦合到所述光接收单元的光电探测阵列。该光电探测阵列包括多个光电探测,使得光电探测阵列中的至少一个特定光电探测用于接收来自多个光束中的每个特定光束的散射光。
  • 飞行时间设备
  • [发明专利]一种带有有效光导的闪烁晶体探测-CN201710346671.7在审
  • 孙红岩 - 孙红岩
  • 2017-05-17 - 2017-07-14 - G01T1/202
  • 本发明公开了一种带有有效光导的闪烁晶体探测,包括电路板,其特征在于,电路板的上部设置有光电探测阵列光电探测阵列的上部设置有光导,光导的上部设置有下层闪烁晶体阵列,下层闪烁晶体阵列的上部设置有上层闪烁晶体阵列该装置解决了现有的闪烁晶体探测系统的空间分辨率是由单个闪烁晶体单元的大小来决定的。这种小尺寸的闪烁晶体单元就限制了一个闪烁晶体单元粘连一个光点探测的设计。因为光电探测的尺寸不能够加工成太小,另外系统还需要大量的读取通道,同时光电探测阵列的有效探测面积是小于整个探测实际包装尺寸的,这就造成了有许多探测盲区,造成使用麻烦的问题。
  • 一种带有有效闪烁晶体探测器
  • [发明专利]一种新型CT分立探测-CN201710546321.5在审
  • 杨明洁;王英杰;刘彦韬;章志明;朱美玲;李道武;阙介民;刘林;周魏;童腾;史戎坚;魏存峰;魏龙 - 中国科学院高能物理研究所
  • 2017-07-06 - 2017-11-24 - G01T1/20
  • 本发明公开了一种新型CT分立探测,其特征在于,包括分立闪烁体阵列、光纤耦合体、光电转换器件阵列探测机械机构体;探测机械结构体包括探测盒和探测准直;其中,探测盒内设有一闪烁体固定结构体,用于将探测盒分为辐射区和辐射隔离区,所述探测盒设有一与所述闪烁体固定结构体平行的缝隙,该缝隙与所述探测准直的输出端对应,所述分立闪烁体阵列设置在所述闪烁体固定结构体上;所述分立闪烁体阵列通过所述光纤耦合体与设置在所述辐射隔离区中的所述光电转换器件阵列连接,所述光纤耦合体用于将所述分立闪烁体阵列的闪烁光信号传输至所述光电转换器件阵列。本发明避免了光电转换器件之间的光学串扰且不受X射线辐照。
  • 一种新型ct分立探测器
  • [实用新型]一种基于时间测角的新型传感-CN202120401223.4有效
  • 张白;康学亮;高洋;其他发明人请求不公开姓名 - 北方民族大学
  • 2021-02-23 - 2021-10-15 - G01B11/26
  • 本实用新型涉及一种基于时间测角的新型传感,包括光波导阵列器件,对激光进行角度变化后发射至多边正棱柱和参考光电探测;测量光电探测,接收多边正棱柱反射的激光;参考光电探测,接收光波导阵列器件发射的激光;处理,记录激光入射至参考光电探测的时间和入射至测量光电探测的时间,根据时间差计算出多边正棱柱的相对角度,作为被测物体在时间段内的旋转角度;多边正棱柱搭载被测物体进行旋转,将光波导阵列器件发射的激光反射至测量光电探测通过光波导阵列器件实现激光入射角的高频改变,通过激光入射至参考光电探测与测量光电探测的时间差确定出多边正棱柱的相对旋转角度,角度测量精度将与时间测量精度相关。
  • 一种基于时间新型传感器

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