专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]LED外延生长方法-CN201710251616.X有效
  • 徐平 - 湘能华磊光电股份有限公司
  • 2017-04-18 - 2019-05-10 - H01L33/00
  • 本申请公开了一种LED外延生长方法,依次包括:处理衬底、生长低温成核层GaN、生长高温GaN缓冲层、生长非掺杂u‑GaN层、生长气氛n‑GaN层、生长发光层、生长P型AlGaN层、生长P型GaN层、生长其中,所述变气氛n‑GaN层包括N2气氛n型GaN层、H2气氛n型GaN层和N2和H2混合气氛n型GaN层。与传统方法相比,把传统的n型GaN层,设计为高温N2气氛n型GaN层、低温H2气氛n型GaN层和低温N2和H2混合气氛n型GaN层的变气氛N型GaN层结构,提升量子阱发光区的电子空穴对,增强发光辐射效率,提高LED的发光效率。
  • led外延生长方法
  • [发明专利]LED外延生长方法-CN201910676755.6有效
  • 徐平;胡耀武;龚彬彬;黄胜蓝;蒋东风 - 湘能华磊光电股份有限公司
  • 2019-07-25 - 2022-04-22 - H01L33/00
  • 本申请公开了一种LED外延生长方法,依次包括:处理衬底、生长低温成核层GaN、生长高温GaN缓冲层、生长非掺杂u‑GaN层、生长N2和H2混合气氛低温AlInGaN:Zn层、生长H2气氛中温InGaN:Si层、生长N2气氛高温GaN:Mg层、生长发光层、生长P型AlGaN层、生长P型GaN层、生长P型GaN接触层、降温冷却。本发明方法通过引入N2和H2混合气氛低温AlInGaN:Zn层、H2气氛中温InGaN:Si层、N2气氛高温GaN:Mg层的结构以提升量子阱发光区的电子空穴对,增强发光辐射效率,提高LED的发光效率,并减少外延片翘曲。
  • led外延生长方法
  • [发明专利]一种LED外延层生长方法-CN201910677410.2有效
  • 徐平;胡耀武;龚彬彬;谢鹏杰 - 湘能华磊光电股份有限公司
  • 2019-07-25 - 2022-04-22 - H01L33/00
  • 本申请公开了一种LED外延层生长方法,依次包括:处理衬底、生长低温成核层GaN、生长高温GaN缓冲层、生长非掺杂u‑GaN层、生长N2和H2混合气氛低温AlInGaN:Zn层、生长H2气氛中温InGaN:Si层、生长N2气氛高温GaN:Mg层、NH3裂解、生长发光层、生长P型AlGaN层、生长P型GaN层、生长P型GaN接触层、降温冷却。本发明方法通过引入N2和H2混合气氛低温AlInGaN:Zn层、H2气氛中温InGaN:Si层、N2气氛高温GaN:Mg层的结构和NH3裂解工艺以提升量子阱发光区的电子空穴对,增强发光辐射效率,
  • 一种led外延生长方法
  • [发明专利]一种LED外延结构及其生长方法-CN201611155227.9有效
  • 林传强 - 湘能华磊光电股份有限公司
  • 2016-12-14 - 2019-07-02 - H01L33/00
  • 本发明的第一目的在于提供了一种LED外延结构及其生长方法,具体包括处理衬底、生长低温GaN成核层、生长高温GaN缓冲层、生长非掺杂的u‑GaN层、生长掺杂Si的n‑GaN层、生长多周期量子阱MQW发光层、生长P型AlGaN层、生长P型GaN层、生长P型GaN接触层、降温冷却,该生长p型GaN层先通过低温N2气氛生长P型GaN层;再高温H2气氛生长P型GaN层;最后通过高温N2/H2混合气体生长P型GaN层,从而降低LED的工作电压,提高LED的发光效率。本发明的第二目的在于提供用此外延结构生长方法生产的LED外延结构,该结构将传统的高温p型GaN层价格改变为低温N2气氛、高温H2气氛、高温N2/H2混合气体的变气氛p型GaN层结构,使LED光功率受到P层空穴浓度的限制,驱动电压受到P层空穴迁移率的限制的问题。
  • 一种led外延结构及其生长方法
  • [发明专利]一种可调节碳化硅单晶生长体系气氛生长坩埚和方法-CN202011041383.9有效
  • 马远;陈豆;薛卫明 - 中电化合物半导体有限公司
  • 2020-09-28 - 2021-08-13 - C30B29/36
  • 本发明公开了一种可调节碳化硅单晶生长体系气氛生长坩埚和方法。所述可调节碳化硅单晶生长体系气氛生长坩埚包括:坩埚主体;原料腔,位于所述坩埚主体内,用于装填碳化硅单晶的生长原料;生长腔,位于所述坩埚主体内,并位于所述原料腔的上方,用于生长籽晶而获得碳化硅单晶;疏气腔,位于所述坩埚主体内,并位于所述原料腔的下方,所述疏气腔内具有疏气组件,用于向所述原料腔内释放卤素气体,以调节所述碳化硅单晶生长体系气氛。基于本发明可在晶体生长初期将卤素气体释放进入生长氛围,达到消耗晶体生长初期多余硅的目的,进而调节碳化硅单晶生长气氛的化学组成,提高碳化硅单晶质量以及减少对石墨坩埚的腐蚀。
  • 一种调节碳化硅生长体系气氛坩埚方法
  • [发明专利]一种新型GAN基LED量子阱有源区的外延生长方法-CN201210189941.5有效
  • 孙玉芹;王江波;魏世祯;刘榕 - 华灿光电股份有限公司
  • 2012-06-11 - 2012-10-03 - H01L33/00
  • 本发明公开一种新型GAN基LED量子阱有源区的外延生长方法,该芯片包括衬底以及依次层叠于衬底上的缓冲层、u-GaN、n型GaN、量子阱有源区、p型GaN,量子阱有源区中的量子垒的生长方法步骤:在纯氮气氛生长完量子阱后,先切换为纯氢气氛生长一层较厚的纯氢量子垒,然后切换为纯氮气氛,并在纯氮气氛下等待一段时间,之后再生长一层较薄的纯氮量子垒,即量子垒是通过纯氮纯氢气氛的切换分别生长一层较厚的纯氢垒和一层较薄的纯氮垒。该发明方法能有效地提高量子阱有源区的整体质量,进而提高发光效率;同时由于该方法生长的量子阱有源区较薄,相比于传统的外延生长方法,整体可节约30%的生长时间。
  • 一种新型ganled量子有源外延生长方法
  • [实用新型]一种生长碳化硅晶体的坩埚装置-CN202121920231.6有效
  • 陈泽斌;张洁;廖弘基;陈华荣 - 福建北电新材料科技有限公司
  • 2021-08-17 - 2022-01-21 - C30B29/36
  • 一种生长碳化硅晶体的坩埚装置,涉及半导体技术领域,该生长碳化硅晶体的坩埚装置包括坩埚及叶轮,坩埚包括坩埚锅体及坩埚盖,坩埚锅体用于放置碳化硅粉末,坩埚盖位于坩埚锅体内部的一侧用于放置仔晶,叶轮设置于坩埚锅体内,叶轮包括叶轮本体和设置在叶轮本体上的多个叶片,叶轮本体与坩埚内侧壁具有用于供气氛传输的气氛传输通道,气氛传输通道包括气氛通道入口与气氛通道出口,叶轮用于当坩埚被加热且伴随坩埚进行自旋时,挤压所述坩埚内的空气,以加快碳化硅晶体的生长气氛的传输。
  • 一种生长碳化硅晶体坩埚装置
  • [发明专利]一种有效降低碳化硅外延片缺陷密度的方法-CN202310419900.9在审
  • 张南;郭嘉杰;黄吉裕;刘自然;谭永炘;王慧勇;罗骞 - 季华实验室
  • 2023-04-19 - 2023-08-22 - C30B29/36
  • 本发明公开了一种有效降低碳化硅外延片缺陷密度的方法,属于半导体加工领域,将生长外延层的步骤分成了若干个周期,每个周期内依次包括高速生长过程、气氛修正过程和低速生长过程,气氛修正过程中的硅源流量小于低速生长过程的硅源流量气氛修正过程避免外延层长期处于富碳环境中,能够周期性地修正反应室中的气氛,全程不会完全中断生长源气流,对台阶流生长模式的影响小,有利于降低外延片缺陷密度,低速生长过程在不中断生长源气流的前提下起到刻蚀作用和退火作用相结合的综合效果,有利于修复衬底表面缺陷、提升外延层的结晶质量,从而为下一轮高速生长过程提供良好表面作为基础,能进一步减少外延片缺陷。
  • 一种有效降低碳化硅外延缺陷密度方法

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