专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种铬硅系薄膜电阻及其制备方法-CN202110662034.7有效
  • 杨尚洁;杨永峰;张万垚;李林;折宇;陈宝忠 - 西安微电子技术研究所
  • 2021-06-15 - 2022-11-29 - H01L49/02
  • 本发明属于薄膜电阻制备技术领域,公开了一种铬硅系薄膜电阻及其制备方法,包括以下步骤:在衬底上使用化学气相沉积法沉积绝缘层;使用物理气相沉积法在绝缘层上先沉积铬硅电阻层,再沉积钛钨层;使用化学气相沉积法在钛钨层上沉积层,作为硬掩膜;在硬掩膜上完成电阻图形的制备;对层进行刻蚀,形成硬掩膜窗口;使用强氧化溶剂对硬掩膜窗口的钛钨层进行去除;对铬硅电阻层进行干法预刻蚀;使用湿法化学腐蚀法对铬硅电阻层进行腐蚀,得到铬硅系薄膜电阻使用硬掩膜作为刻蚀阻挡层可解决湿法腐蚀的侵蚀问题,使用干法预刻蚀解决湿法腐蚀速率非线性变化的问题,可有效控制电阻图形的宽度、长度,提高电阻的精度。
  • 一种铬硅系薄膜电阻及其制备方法
  • [发明专利]具有内侧墙的浅槽填充方法-CN201110398277.0有效
  • 陈帆;陈雄斌;薛恺;周克然;潘嘉;李昊;王永成 - 上海华虹NEC电子有限公司
  • 2011-12-05 - 2013-06-05 - H01L21/762
  • 本发明公开了一种具有内侧墙的浅槽填充方法,将形成内侧墙的材料由非掺杂的改为高n型掺杂的,从而在刻蚀形成内侧墙时,巧妙地利用了干法反刻对高n型掺杂的和非掺杂的具有较高选择比的特点,完整保留非掺杂的,从而在保护了硅材料不受损伤。又将首次形成衬垫氧化层的工艺由原有的热氧化生长工艺改为淀积工艺,而将再次形成的新的衬垫氧化层由淀积工艺改为热氧化工艺。由于硅材料并未受到任何损伤,因此热氧化生长的新的衬垫氧化层具有较高的质量,对湿法腐蚀工艺的承受能力较强。最终,在形成金属硅化物的步骤中,便降低结刺穿风险以及漏电水平。
  • 具有内侧填充方法
  • [发明专利]一种解决凹坑残留的浅槽隔离工艺制备方法-CN202210901510.0在审
  • 李林;杨尚洁;杨永峰;张万垚 - 西安微电子技术研究所
  • 2022-07-28 - 2022-10-11 - H01L21/762
  • 本发明公开了一种解决凹坑残留的浅槽隔离工艺制备方法,在0.18pumCMOS工艺平台中,浅槽隔离形成的工艺过程为:首先完成氮化硅硬掩膜刻蚀,并以氮化硅作为硬掩膜完成硅片的干法刻蚀形成浅沟槽。然后采用化学气相沉积在浅沟槽中填充,并采用化学机械研磨去掉多余的,再通过磷酸全剥去除氮化硅,形成完整的浅槽隔离。本发明在湿法清洗工艺中引入硬掩膜回刻技术后,增加了介质的填充宽度,可在后续的湿法全剥工艺中抵消横向刻蚀作用;通过优化多步湿法腐蚀和清洗工艺解决浅槽隔离工艺制作过程中出现的凹坑残留问题,达到平坦化刻蚀提升器件的隔离性能
  • 一种解决残留隔离工艺制备方法
  • [发明专利]一种硅微针基板及其制备方法-CN201611176719.6在审
  • 郭文平;赵科研;许南发 - 山东元旭光电股份有限公司
  • 2016-12-19 - 2017-05-31 - A61M37/00
  • 本发明公开了一种硅微针基板及其制备方法,硅微针制备方法包括硅基板清洗,硅基板保护膜,光刻,图形转移和湿法刻蚀硅基板步骤。硅基板净化后,在硅基板的两面生长膜,然后在膜上面遮盖上带有实体图形的掩膜板,经过光刻、曝光等将掩膜板上的实体图形转移到膜上,再利用湿法刻蚀硅基板制得针尖和针体,然后用BOE腐蚀去掉多余的膜得到硅微针基板本发明工艺简单,仅需湿法刻蚀便可制得所需硅微针,避免了干法刻蚀带来的环境污染和大量资金使用,经济实惠,所制硅微针耐用性好,特别适合用于美容、医疗器械和生物医疗领域,尤其是透皮给药的异平面硅微针基板的制备
  • 一种硅微针基板及其制备方法
  • [发明专利]核壳粒子及用于减少恶臭的用途-CN201480068570.2在审
  • 潘桂生;苏曼·乔普拉 - 高露洁-棕榄公司
  • 2014-12-18 - 2016-08-03 - C23C18/12
  • 本发明涉及核壳粒子,其中每个核壳粒子包含核,并且所述核的表面被金属硅酸盐蚀刻,所述核壳粒子是通过以下步骤制备:i)将一定量在水中的粒子与一定量的碱混合以产生核壳粒子,其中所述碱包含一价金属离子,每个核壳粒子包含核,并且所述核的表面被一价金属离子的硅酸盐蚀刻;及ii)使在步骤i)中形成的核壳粒子与包含第金属离子的金属盐反应以形成在核表面上包含第金属离子硅酸盐的核壳粒子
  • 二氧化硅粒子用于减少恶臭用途
  • [发明专利]中空颗粒的制造方法-CN202310895158.9在审
  • 神谷广幸;金贤枝;松原俊哉 - AGC株式会社;AGC硅素技术株式会社
  • 2018-12-25 - 2023-10-24 - C01B33/18
  • 本发明涉及中空颗粒的制造方法。课题在于,提供一种具有致密的壳层的中空颗粒。一种中空颗粒的制造方法,其中,将包含水相、油相、及表面活性剂的水包油型乳液的pH设为3.0以下,在该水包油型乳液中添加第1原料,在碱金属离子存在下,在添加有第1原料的乳液中以乳液的pH为8以上的方式添加第2原料,得到中空前体分散液,由中空前体分散液得到中空前体,然后由中空前体得到中空颗粒。
  • 中空二氧化硅颗粒制造方法

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