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[实用新型]一种RC振荡器的修调电路及应用其的RC振荡器-CN201120222258.8有效
发明人：孟松;李威;宋芳芳;陈放;马力 -专利权人：比亚迪股份有限公司
申请日： 2011-06-28 - 公布日： 2012-02-08 - 主分类号： H03K3/013 文献下载
摘要：一种RC振荡器的修调电路，包括：温度传感器，用于检测RC振荡器的环境温度并将温度转化为电压；模数转换器，将所述电压进行模数转换；RC修调模块，包括预设修调表格、比较器和修调控制器，所述模数转换器输出的结果和预设修调表格中的值通过比较器进行比较，根据比较结果选择预设修调表格中对应的数值，所述修调控制器根据对应的数值对RC振荡器进行修调控制；以及RC振荡器。通过温度传感器检测外界环境的温度，RC修调模块根据不同的温度对应不同的电压差值，并根据RC修调模块中预设修调表格得到需要修调的电阻值，进一步稳定RC振荡器的输出频率。
一种 rc 振荡器电路应用

[发明专利]修调电路-CN202210734567.6在审
发明人：马勋;练悦星 -专利权人：北京奕斯伟计算技术股份有限公司
申请日： 2022-06-27 - 公布日： 2022-11-11 - 主分类号： H01L23/60 文献下载
摘要：本申请公开了一种修调电路，包括：修调控制模块，用于根据配置信号产生烧写信号；以及多个级联的修调模块，根据配置信号和所述烧写信号控制烧写的启动及烧写过程，完成烧写后对应阻值发生变化，并将当前状态下的逻辑电平信号锁存输出作为相应修调模块的修调结果；每个修调模块依次锁存相应周期内的配置信号。本申请的修调电路在本级修调模块结束烧写的启动及烧写后可以自动输出烧录结果，无需重新上电且可以保证修调结果的准确性。
电路

[发明专利]光学镜头温漂检测方法和装置-CN202211437776.0在审
发明人：董文飞;梁伟朝;应永茂 -专利权人：舜宇光学（中山）有限公司
申请日： 2022-11-15 - 公布日： 2023-03-17 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种光学镜头温漂检测方法和装置，通过改变待测镜头与传感器间的平板玻璃厚度和/或平板玻璃折射率，对温漂进行补偿；根据补偿前与补偿后的平板玻璃厚度和/或平板玻璃折射率参数，计算温漂。本发明，通过补偿前(切换前)与补偿后(切换后)的平板玻璃厚度和/或折射率参数，可以反推镜头的高、低温的温漂数据，可搭配客户端相机直接进行温漂测试，准确检测光学镜头的温漂方向及温漂量，操作简单，便于实现，
光学镜头检测方法装置

[发明专利]工业相机温漂消除方法-CN201911016859.0有效
发明人：单彦虎 -专利权人：浙江华周智能装备有限公司
申请日： 2019-10-24 - 公布日： 2021-11-09 - 主分类号： H04N5/217 文献下载
摘要：本发明公开了一种工业相机温漂消除方法。本发明一种工业相机温漂消除方法，包括：步骤1：在温度的作用下工业相机输出图像由图像对应位置像素值和其温漂值叠加P(n,m)而成，认为相邻两幅原始图像之间是完全相同的两幅图像，上幅图像对应位置的温漂值可近似为当前图像对应位置的温漂值，由于工业相机每个感光单元受温度影响相同，则可近似温漂值为原始图像在温度影响下的像素上升平均值即平均像素温漂值(T)。
工业相机消除方法

[发明专利]一种谐振式惯性器件敏感功能构件超快激光微量修调系统-CN201911032548.3有效
发明人：雷名威;李本海;高文焱;王军龙;王学锋;江淮;李广;李凯;侯振兴;张路 -专利权人：北京航天控制仪器研究所
申请日： 2019-10-28 - 公布日： 2021-07-13 - 主分类号： G01C25/00 文献下载
摘要：一种谐振式惯性器件敏感功能构件超快激光微量修调系统，通过频率裂解分析器实时激励并检测待修调工件的惯性特性变化，反馈并控制超快激光同步精准去重，可实现谐振式惯性器件敏感功能构件激光微量修调功能。修调过程和检测过程都在真空腔室中完成，可实现谐振式惯性器件敏感功能构件在位修调的功能；还通过光电探测器、电光调制器和检偏器精确控制激光修调的脉冲数目，可实现谐振式惯性器件敏感功能构件亚微克精度修调的技术指标本发明具有修调操作简便、修调精度高、修调区域可控等优点，在航空航天领域惯性导航系统中具有广泛的应用前景。
一种谐振惯性器件敏感功能构件激光微量系统

[发明专利]一种投影仪温漂抑制方法-CN202310320738.5在审
发明人：郭健;刘春华;位小龙;王懿斌;莫志君;黄广成 -专利权人：中航国画（上海）激光显示科技有限公司
申请日： 2023-03-29 - 公布日： 2023-08-11 - 主分类号： H04N9/31 文献下载
摘要：本发明涉及投影仪温漂抑制技术领域，且一种投影仪温漂抑制方法，包括温漂抑制系统，该系统的温漂抑制方法包括以下步骤：步骤一，检测投影仪的旋光角度来实现角速率测量，计算偏振方位角误差值；步骤二，检测光波长及气室温度，获得偏振波动敏感系数；步骤三，偏振方位角误差值关联偏振波动敏感系数，并生成温漂抑制优化值，并按照优化值对投影仪进行调节。本发明具备降低了偏振波动敏感系数，残余旋光角的偏振误差对系统漂移的影响得到弱化，达到了旋光角偏振误差抑制的目的，进而便于投影仪进行温漂抑制调节，促进提高了投影仪的稳定性。
一种投影仪抑制方法

[实用新型]一种恒温基准电流源-CN202120094184.8有效
发明人：职春星;郑剑钦;赵明 -专利权人：浙江聚芯集成电路有限公司
申请日： 2021-01-14 - 公布日： 2021-07-27 - 主分类号： G05F1/567 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种恒温基准电流源，它包括偏置电压产生电路和零温漂系数电路；所述。所述偏置电压产生电路产生一个特定的电压输入到所述零温漂系数电路中，使得零温漂系数电路导通，进而产生一个零温漂系数的基准电流。本实用新型整体结构简单，不需要使用电阻等器件，可以避免由电阻的温度系数导致精度的下降，并降低了成本；可以通过控制Vse开关的闭合实现任意特定Vbias电压来使得零温漂系数电路导通，进而产生零温漂系数的基准电流；或者通过选择不同的mos管W/L比值实现各种电流的高精度恒温基准电流源。
一种恒温基准电流

[发明专利]管脚复用的测试修调系统、方法、计算机设备和存储介质-CN202010070392.4在审
发明人：江旭明;汪恒毅;朱海刚 -专利权人：浙江大华技术股份有限公司
申请日： 2020-01-21 - 公布日： 2020-06-12 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本申请涉及一种管脚复用的测试修调系统、方法、计算机设备和存储介质，复用管脚外加脉冲信号时，芯片即进入测试修调模式，模式选择模块输入脉冲信号并输出时钟信号给通道选择模块；通道选择模块根据时钟信号输出通道选择信号给测试模块和修调模块，用于确定测试通道和修调通道；在复用管脚悬空的情况下，测试模块根据测试通道获取并输出待测试参数项至复用管脚；根据测试结果，在与修调通道对应的修调位需要修调的情况下，通过复用管脚输入修调指示信号对该修调位进行烧写；实现了一个复用管脚进行模式选择、测试和修调通道选择、测试参数项的输出和熔丝修调烧写的控制，降低了芯片的成本的同时也提高了芯片封装后的测试修调的方便性和准确率。
管脚测试系统方法计算机设备存储介质

[发明专利]一种CrSi电阻及其激光修调仿真方法-CN202211451224.5在审
发明人：甘贤鹏;尹灿;潘琴;陈媛;万启波;任春桥;陆章相;邓智杰;莫景勇 -专利权人：贵州振华风光半导体股份有限公司
申请日： 2022-11-20 - 公布日： 2023-03-07 - 主分类号： G06F30/30 文献下载
摘要：一种CrSi电阻及其激光修调仿真方法，属于集成电路设计领域。CrSi电阻的形状由修调区和非修调区组成，非修调区贯通CrSi电阻的左端和右端，修调区位于非修调区的左端和右端之间，与非修调区一体化；仿真方法为：将CrSi电阻左端设为正极，右端设为负极，电流从电阻的左端流向右端；沿平行于电流方向，切除电阻修调区域的部分区域，进行激光修调；按照设定的步进间隔依次减少电阻修调区域垂直于电流方向的长度，每次步进均仿真出结果；遍历从初始值到目标值的多个阻值；对电阻按设定值进行精确修调
一种 crsi 电阻及其激光仿真方法

[发明专利]减少熔丝尖刺的修调结构及其制造方法-CN201310252078.8有效
发明人：杨彦涛;赵金波;王铎;李云飞;肖金平 -专利权人：杭州士兰集成电路有限公司
申请日： 2013-06-21 - 公布日： 2013-10-02 - 主分类号： H01L23/525 文献下载
摘要：本发明提供一种减少熔丝尖刺的修调结构，包括半导体衬底；介质层；形成于介质层上的修调熔丝具有一修调电阻、两探针接触垫及分别用于连接修调电阻和探针接触垫的过渡区，过渡区中具有减少修调电阻熔丝尖刺的修调刻开区；形成在修调熔丝和介质层上的钝化层中分别具有修调刻开区处的释放窗口、修调电阻处和探针接触垫处的压点窗口。本发明还提供减少熔丝尖刺的修调结构的制造方法，利用金属的电迁移特性，使修调刻开区可以改善电迁移和温度引起的熔丝尖刺异常现象，并由此减少后道工艺水汽、聚合物残留，解决由此熔丝尖刺导致的封装失效，机械应力问题
减少尖刺结构及其制造方法

[发明专利]一种电阻修调电路及方法-CN202111399727.8在审
发明人：满雪成;顾雨婷 -专利权人：圣邦微电子（北京）股份有限公司
申请日： 2021-11-19 - 公布日： 2023-05-23 - 主分类号： G05F1/56 文献下载
摘要：一种电阻修调电路，其特征在于：所述电路包括修调单元和补偿单元；其中，所述修调单元，基于修调电阻和开关管的控制实现对于输出电压的修调；所述补偿单元，与所述修调单元连接，用于对所述修调单元中的开关导通电阻进行补偿，以使得所述输出电压两侧的修调电阻之和的比例固定。
一种电阻电路方法

[发明专利]宽范围提高电参数修调精度电路-CN202010377017.4有效
发明人：郑辰光;于翔 -专利权人：圣邦微电子（北京）股份有限公司
申请日： 2020-05-07 - 公布日： 2022-07-12 - 主分类号： G05F3/26 文献下载
摘要：一种宽范围提高电参数修调精度电路，通过在双电流镜电流比例系数调整实现单一点位修调的基础上，从检测电路采集感应电流进入第二电流判断模块，第二电流判断模块输出调整电流给修调开关阵列，修调开关阵列产生灌入第一电流镜的镜像MOS管的修调电流或从第二电流镜的被镜像MOS管拉入的修调电流，以形成对新增修调点的正负修调，由此在双修调点形成的宽范围上提高电参数修调精度。
范围提高参数精度电路

[发明专利]电路参量的修调方法、修调电路、芯片、电子设备-CN202110788724.7有效
发明人：田江江 -专利权人：上海艾为电子技术股份有限公司
申请日： 2021-07-13 - 公布日： 2022-10-21 - 主分类号： G05F1/56 文献下载
摘要：本申请公开一种电路参量的修调方法、修调电路、芯片和电子设备，可以降低修调误差，方法包括获取待修调电路中待修调元件处于各个工作状态时的测试参量以及对应的目标参量；确定所述待修调元件的各个测试参量构成的测试范围和对应的目标参量构成的目标范围，获取测试范围的测试长度以及所述目标范围的目标长度；以及获取与目标参量存在偏差的测试参量并进行修调，其中，将测试长度修调至等于目标长度，基于目标长度分别将存在偏差的测试参量修调至等于目标参量。
电路参量方法芯片电子设备

[发明专利]一种CrSi2-CN201910132465.5有效
发明人：杨小爱;袁忠文;王勇 -专利权人：西安微电子技术研究所
申请日： 2019-02-22 - 公布日： 2020-10-02 - 主分类号： H01C7/00 文献下载
摘要：本发明公开了本发明的一种CrSi2薄膜电阻，通过CrSi2薄膜电阻结构设计和激光修调方法的优化，开发五级并联可调区和两个连续修调可调区的电阻设计结构，使修调后大部分打断的CrSi2薄膜电阻均不参与导电，将激光修调对CrSi2薄膜电阻稳定性的影响降到最小；本发明还公开了一种CrSi2薄膜电阻的激光修调方法，修调时根据电阻实际值选择打断或修调不同可调区；修调过程中当测试精度超过激光修调机本身的精度时，用外接测量表测试修调后的精度，克服了激光修调机精度分辨率对测量数据的制约，进一步提高精度，修调后CrSi2薄膜电阻温度系数达到±10ppm/℃，电阻精度达到±0.01％。
一种 crsi base sub

[发明专利]一种应用在集成电路中的低成本可重复修调方法-CN201710157172.3在审
发明人：张智才;蒋宇俊 -专利权人：聚洵半导体科技（上海）有限公司
申请日： 2017-03-16 - 公布日： 2017-09-19 - 主分类号： H03K19/003 文献下载
摘要：发明公开了一种应用在集成电路中的低成本可重复修调方法，包括以下流程S1、运算放大器的两个输入管脚通过开关复用，开关的控制信号通过修调垫P1来控制开关的打开和闭合，S2、根据修调位数的数量加入同样数量的移位寄存器本发明无论需要修调多少位，只需要两个修调垫就可以满足要求，节约了芯片面积，本发明是可以重复修调的，在修调过程中发现修调有错误，可以重新开始修调过程，本发明无论需要修调多少位，通过修调4次就能够达到使用者想要的修调精度，从而大大减小修调测试时间以及修调成本。
一种应用集成电路中的低成本重复方法

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