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- [发明专利]视力测试终端-CN201510399125.0在审
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甄毅;郑伟宏
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甄毅;郑伟宏
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2015-07-08
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2015-12-02
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A61B3/032
- 为了解决目前视力测试的方法不方便且过程较复杂的问题，本发明提出一种视力测试终端，包括显示单元、存储单元、处理单元、接收单元和用户输入单元；所述处理单元分别与所述显示单元、所述存储单元、所述接收单元连接，所述用户输入单元与所述接收单元连接；所述存储单元用于存储视力测试的题目，所述处理单元用于读取所述视力测试的题目，显示单元用于显示所述视力测试的题目，所述用户输入单元用于将测试者的回答发送给所述接收单元，所述接收单元用于将测试者的回答并发送给所述处理单元，所述处理单元对测试者的回答进行处理。本发明简化了视力测试的过程，使测试者能够非常方便地进行视力测试。
- 视力测试终端
- [发明专利]CPU的可测试性时钟电路及其测试方法-CN201610137652.9有效
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廖裕民;刘欣
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福州瑞芯微电子股份有限公司
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2016-03-11
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2018-12-18
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G06F1/08
- 本发明提供一种CPU的可测试性时钟电路，包括自动扫描控制单元、bist测试档位频率产生单元、scan测试档位频率产生单元、efuse存储单元、四分频电路、L1_cache测试选择单元、bist测试选择单元、scan测试选择单元、OCC电路、自动比对单元、期望pattern单元以及结果分析单元；所述自动扫描控制单元分别连接所述bist测试档位频率产生单元、scan测试档位频率产生单元、efuse存储单元以及结果分析单元；该时钟结构可以同时满足功能模式和各种测试模式的时钟自动切换，可以最大限度的使电路提高复用性,同时减少了功耗；能同时满足高速低速scan测试和bist测试的复杂结构。
- cpu测试时钟电路及其方法
- [发明专利]测试装置-CN200880021581.X无效
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冲野升
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爱德万测试株式会社
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2008-06-25
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2010-03-31
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H01L21/66
- 本发明涉及的测试装置具有：多个测试单元，所述多个测试单元的每个测试单元具有：和形成于被测试晶片上的电路进行测试信号的发送与接收的测试模块；在测试模块及被测试晶片之间将测试信号的传送路径加以结合的结合部；在供给压力时，使被测试晶片抵接于结合部的保持部，以及收纳保持部及结合部的框体，并且，在框体的内部测试被测试晶片；该测试装置还包括储存部；搬运部；主机；电源及压力源，其中，储存部中储存着由多个测试单元测试的作为测试对象的被测试晶片，且相对于多个测试单元共享；搬运部在储存部及多个测试单元各自之间搬运被测试晶片，主机对多个测试单元分别指示测试的顺序，电源对多个测试单元分别供给电力，且是相对于多个测试单元的共用电源，压力源对多个测试单元分别供给压力，且是相对于多个测试单元的共用压力源。
- 测试装置
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