专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]检测测序数据中的交叉污染-CN202180076568.X在审
  • O·萨卡里亚;C-J·A·V·亚基姆;P·P·辛格;R·A·P·卡列夫;R·黄 - 格瑞尔有限责任公司
  • 2021-09-17 - 2023-06-27 - G16B40/20
  • 检测用于确定受试者癌症的测试样本之间的交叉污染是有益的。为了检测交叉污染,使用基因组测序技术制备包括至少一个单核苷酸多态性的测试序列。可以对一些测试序列进行过滤以提高准确度和精确度。基于次要等位基因频率来确定每个测试序列的先验污染概率。将包括似然测试污染模型应用于测试序列。似然测试获得表示测试样本受污染的可能性的当前污染概率。污染模型还可以确定样本包括杂合度损失的可能性,该杂合度损失表示测试序列受污染的可能性。受污染测试样本将被移除。通过将受污染测试序列与其他测试序列进行比较,可以找到受污染测试样本的来源。
  • 检测序数中的交叉污染
  • [发明专利]测定配制剂的清洗性能的方法-CN201480050139.5在审
  • J·海德尔;K·施泰因豪尔;H·乔丹 - 乔治洛德方法研究和开发液化空气有限公司
  • 2014-09-04 - 2016-04-27 - G01N33/48
  • 本发明涉及测定配制剂清洗性能的方法,其包括a)提供配制剂,b)使测试体与配制剂接触,测试体被含蛋白质测试污染污染,c)使被污染测试体与配制剂接触,以便清洗污染测试体,d)对清洗的测试体进行漂洗,e)如果需要,对漂洗后的测试体进行干燥,f)如果需要,对残留在测试体上的测试污染物进行定性评价,和g)对残留在测试体上的测试污染物进行定量分析,对残留的测试污染物的定量分析包括从测试体上去除残留的测试污染物通过该方法,对用于机器清洗硬表面,特别是医疗设备的配制剂的清洗性能的评价变得容易,特别涉及含蛋白质污染物。
  • 测定配制清洗性能方法
  • [发明专利]用于检测晶圆表面金属的方法-CN202111329658.3有效
  • 李阳;张婉婉;衡鹏;徐鹏 - 西安奕斯伟材料科技有限公司
  • 2021-11-11 - 2022-02-18 - H01L21/66
  • 本发明涉及一种用于检测晶圆表面金属的方法,包括:检测晶圆表面金属是否超标;将金属含量超标的晶圆进行μ‑PCD测试,获得第一测试图;将金属含量超标的晶圆进行XRT测试,获得第二测试图;将第一测试图和第二测试图进行叠图处理,获取金属污染造成的缺陷点的分布信息,并根据分布信息判断晶圆表面的金属污染来源,其中金属污染造成的缺陷点为第一测试图的缺陷点和第二测试图的缺陷点不一致的异常缺陷点。利用金属离子污染对μ‑PCD测试和XRT测试影响不同,而获得金属污染的具体位置,并根据金属污染的位置、形状等使得金属污染的来源可追溯。利用金属离子污染对μ‑PCD测试和XRT测试影响不同,使得金属污染的来源可追溯。
  • 用于检测表面金属方法
  • [实用新型]一种紫外LED灯珠老化测试装置-CN202121108602.0有效
  • 高春瑞;苏水源;涂舒;郑剑飞 - 厦门多紫电子科技有限公司
  • 2021-05-21 - 2021-12-10 - G01R31/26
  • 本实用新型公开了一种紫外LED灯珠老化测试装置,涉及灯具测试技术领域,其技术方案要点是:包括测试罩体、灯板、污染容器与加热件;灯板,其安装于测试罩体内,并用于供紫外线LED灯珠安装发亮;污染容器,其安装于测试罩体内,且所述污染容器内设有可受热挥发的污染元素;加热件,安装于污染容器上,以给污染容器内部的污染元素加热,使污染元素挥发,以使挥发的污染元素与紫外线LED灯珠反应,模拟实际使用场。本实用新型能够模拟实际环境给LED灯珠的作业提供污染元素反应,具有提高其老化测试精度的效果。
  • 一种紫外led老化测试装置
  • [发明专利]一种水处理用膜性能分析方法-CN202310170887.8有效
  • 蔡诚;孙文俊;田一梅 - 天津大学
  • 2023-02-27 - 2023-08-15 - G01N15/08
  • 本发明公开了一种水处理用膜性能分析方法,膜性能分析装置包括进料箱、膜室、产水箱、进料泵以及反洗泵,本发明可多维度测试膜性能及进行膜污染研究,利用本发明的膜性能分析装置可分析测试装置测试膜初始性能、进行污染模型的类型评价、计算膜污染速率、通过不同污染源截留速率评价膜污染、通过超声波技术评价膜污染形成速率、进行反洗控制膜污染效果测试以及化学清洗控制膜污染效果测试
  • 一种水处理性能分析方法
  • [发明专利]一种城市污染环境模拟装置-CN202010868210.8在审
  • 项佳伟 - 南通齐励环保科技有限公司
  • 2020-08-26 - 2020-11-27 - G01N17/00
  • 本发明涉及一种城市污染环境模拟装置,其包括发动机、冷却箱和污染测试室,所述污染测试室内设置有用于放置样品的格栅组件,所述污染测试室内设置有用于将格栅组件移出和送入污染测试室内的支撑组件,所述支撑组件包括第一支撑立柱和第二支撑立柱,所述第一支撑立柱和第二支撑立柱均位于污染测试室内部,并分别转动连接于污染测试室宽度方向的两侧,其中所述第一支撑立柱位于污染测试室的开口处;所述支撑立柱转动连接于格栅组件。
  • 一种城市污染环境模拟装置
  • [发明专利]硅片金属污染测试方法及装置-CN202110063682.0在审
  • 孙超;王婷;严颖杰;林志鑫 - 上海新昇半导体科技有限公司
  • 2021-01-18 - 2021-06-04 - H01L21/66
  • 本发明提供一种硅片金属污染测试方法及装置,在对硅片进行热处理后,通过对硅片进行SPV测试,可获取硅片中关于金属污染含量的SPV测试数据;通过对SPV测试数据进行SPC数据分析,可获取SPV测试数据与阈值的比对结果本发明可实现对硅片金属污染的数字化及自动化测试,以提高测试灵敏度、测试准确率及测试效率;无需使用络酸,从而可降低污染及危险系数,且无需进行清洗工序;从而本发明可对硅片金属污染进行方便、快捷、灵敏度高、准确率高、有效节约人力及物力资源的测试
  • 硅片金属污染测试方法装置
  • [发明专利]污染测试手镯-CN201310451654.1无效
  • 娄保东 - 南京专创知识产权服务有限公司
  • 2013-09-28 - 2015-04-15 - A44C5/00
  • 本发明一种适用于污染测试手镯,主要由套圈、变色装置(1)、紧急呼叫装置(2)、污染检测装置(3)三部分组成。该套圈内部周身嵌入有一变色装置(1),当污染检测装置(3)检测到污染指标超过一定的范围后,如辐射超过一定的范围,噪声超过一定范围等等,诸如此类时,该变色装置(1)会变色。该手镯还配置有若干不同类型的污染检测装置(3),该手镯集成有若干污染检测装置,可以检测不同类型的污染,如辐射、噪声、温度、重金属等等。
  • 污染测试手镯
  • [发明专利]一种片盒内污染物含量的检测方法-CN201711389344.6在审
  • 王锡铭;张俊宝;陈猛 - 重庆超硅半导体有限公司
  • 2017-12-21 - 2018-05-11 - G01N21/73
  • 这是一种集成电路用硅片的送样片盒和包装片盒中金属含量的测试方法。本发明测试的主要目的是通过对片盒进行测试得知其污染物含量从而采取措施防止其对硅片进行污染。本发明首先通过预检的方式对污染物的种类进行确认,然后对污染物性质进行分析,根据污染物的性质和片盒材质性质选择提取液、提取方式和测试仪器进行检测。本发明由于预先对可能含有的污染物进行分析并选择合理的提取液进行提取的方式,既排除了可能由于提取液选择的原因使测试离子氧化而导致的测试元素间相互干扰,又能保证污染物的提取效果,保证了测试的精确性。此外还可以根据片盒材质的不同考虑提取液的选择,并由此保证在测试过程中不会对片盒产生任何损害或产生颗粒污染测试样品,这就确保了测试样品片的使用寿命和测试结果的准确。
  • 一种片盒内污染物含量检测方法

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