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[发明专利]PIN二极管检测器、制造方法和包括PIN二极管检测器的系统-CN202210552119.4在审
发明人：李连杰;韩峰;张璐;陆胜天;桂林春;张成林 -专利权人：台湾积体电路制造股份有限公司;台积电（中国）有限公司
申请日： 2022-05-20 - 公布日： 2023-10-10 - 主分类号： H01L31/0352 文献下载
摘要：本公开涉及PIN二极管检测器、制造方法和包括PIN二极管检测器的系统。一种PIN二极管检测器包括衬底。PIN二极管检测器还包括位于像素区域中的多个PIN二极管阱，其中多个PIN二极管阱中的每一个具有第一掺杂剂类型。PIN二极管检测器还包括位于外围区域中的具有第一掺杂剂类型的连接环阱和多个浮置环阱。PIN二极管检测器还包括包围多个浮置环阱的场阻环阱，其中场阻环阱具有与第一掺杂剂类型相反的第二掺杂剂类型。PIN二极管检测器还包括毯式掺杂区域。毯式掺杂区域连续地延伸穿过整个像素区域和整个外围区域，并且毯式掺杂区域具有第二掺杂剂类型。
pin 二极管检测器制造方法包括系统

[发明专利]具有同时检测开路及短路功能的发光二极管装置及其方法-CN200910171752.3有效
发明人：徐国庆;许庆勋;张淙豪;廖廷伟 -专利权人：联咏科技股份有限公司
申请日： 2009-09-02 - 公布日： 2011-04-06 - 主分类号： F21V23/00 文献下载
摘要：本发明揭示了一种具有同时检测开路及短路功能的发光二极管装置及其方法。该发光二极管装置包含有多个发光二极管串行、一电压转换器、一电流驱动单元、一回路控制单元、一开路检测器、一短路检测器及一电压检测器。该开路检测器及该短路检测器分别用来对该多个发光二极管串行进行开路检测及短路检测。该电压检测器耦接于该开路检测器、该短路检测器及该电压转换器，则用来于该多个发光二极管串行发生开路时，根据该电压转换器的输出电压，产生一重置讯号至该短路检测器，以重新进行该多个发光二极管串行的短路检测。
具有同时检测开路短路功能发光二极管装置及其方法

[发明专利]具有同时检测开路及短路功能的发光二极管装置及其方法-CN201210136011.3无效
发明人：徐国庆;许庆勋;张淙豪;廖廷伟 -专利权人：联咏科技股份有限公司
申请日： 2009-09-02 - 公布日： 2012-09-12 - 主分类号： F21V23/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种具有同时检测开路及短路功能的发光二极管装置及其方法。该发光二极管装置包含有多个发光二极管串行、一电压转换器、一电流驱动单元、一回路控制单元、一开路检测器、一短路检测器及一电压检测器。该开路检测器及该短路检测器分别用来对该多个发光二极管串行进行开路检测及短路检测。该电压检测器耦接于该开路检测器、该短路检测器及该电压转换器，则用来于该多个发光二极管串行发生开路时，根据该电压转换器的输出电压，产生一重置讯号至该短路检测器，以重新进行该多个发光二极管串行的短路检测。
具有同时检测开路短路功能发光二极管装置及其方法

[发明专利]具有在光电二极管层上印制的驱动微集成芯片的X射线检测器-CN202011609021.5在审
发明人：尹丞万;李昊锡;郑镇雄 -专利权人：韩国睿恩斯有限公司;以友技术有限公司;QPIX解决方案股份有限公司
申请日： 2020-12-30 - 公布日： 2021-07-16 - 主分类号： H01L27/146 文献下载
摘要：提供了一种X射线检测器以及用于制造该X射线检测器的方法，X射线检测器包括与光电二极管层分开制造并印刷在光电二极管层上的多个像素驱动微集成芯片。X射线检测器可以包括光电二极管层和驱动层。光电二极管层可以包括多个光电二极管并且被配置为接收已经穿过目标对象的X射线并将接收到的X射线转换成电信号。驱动层可以在光电二极管层上形成并且包括多个微驱动集成芯片，每个微驱动集成芯片耦合到光电二极管层中的两个或更多个光电二极管。可以与光电二极管层分开制造多个像素驱动集成芯片并且使用微转移印刷方法将其印刷在光电二极管层上。
具有光电二极管印制驱动集成芯片射线检测器

[实用新型]一种PIN二极管开关故障检测器-CN201821184712.3有效
发明人：杨兰春 -专利权人：四川九立微波有限公司
申请日： 2018-07-25 - 公布日： 2019-01-08 - 主分类号： G01R31/327 文献下载
摘要：一种PIN二极管开关故障检测器，所述检测器包括第一检测器(6)、第二检测器(2)、第一比较器(7)、第二比较器(3)、第一逻辑转换器(8)和第二逻辑转换器(4)；被检PIN二极管检测输入端与所述第一检测器(6)阳极连接，所述第一检测器(6)阴极与所述第一比较器(7)输入端连接，所述第一比较器(7)输出端与所述第一逻辑转换器(8)输入端连接，被检PIN二极管检测输入端还与所述第二检测器(2)阴极连接，所述第二检测器(2)阳极与所述第二比较器(3)输入端连接，所述第二比较器(3)输出端与所述第二逻辑转换器(4)输入端连接。本实用新型适用于PIN二极管串联、并联、串并联的不同组合形式的PIN二极管开关的故障检测，适合多种PIN二极管开关组合形式，适应性强。
比较器逻辑转换器输入端连接第二检测器第一检测器阴极故障检测器检测输入组合形式输出端检测器本实用新型故障检测阳极连接阳极串并联并联串联

[发明专利]晶闸管检测器和该检测器的晶闸管检测方法-CN201510578435.9有效
发明人：陈刚;王进忠;张建军;陈义 -专利权人：中冶宝钢技术服务有限公司
申请日： 2015-09-11 - 公布日： 2018-07-20 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明提供一种晶闸管检测器和该检测器的晶闸管检测方法，检测器包括外壳、电源、负载电阻、发光二极管、发光二极管限流电阻、二位切换开关、阳极夹、阴极夹、门极探针和若干导线；电源的正极连接阳极夹，电源的负极连接负载电阻、发光二极管和发光二极管限流电阻，且发光二极管限流电阻与发光二极管串联后与负载电阻并联；发光二极管和负载电阻并联后再串连阴极夹；二位切换开关与电源的正极和负极连接，门极探针通过二位切换开关直接与电源的正极或负极连接；本发明解决现有技术中晶闸管检测不方便、故障易误判、效率低、不适于大功率晶闸管的检测等问题，达到了检测器小巧轻便、检测方法操作简单高效、同时适用范围广的目的。
晶闸管检测器检测方法

[发明专利]具有可重新组态的光二极管数组的光学接近传感器-CN201510292288.9有效
发明人：玛诺·必酷曼得拉;思琳·巴朗 -专利权人：英特希尔美国公司
申请日： 2015-06-01 - 公布日： 2019-09-27 - 主分类号： G01S17/50 文献下载
摘要：本文中描述光学接近传感器、搭配光学接近传感器使用的方法及包括光学接近传感器的系统。此光学接近传感器包括一光源及一光检测器，其中该光检测器包括个别可选择的多个光二极管。在一校准模式期间，测试该光检测器的该多个光二极管中的个别光二极管以识别哪些光二极管为串扰支配式。在一操作模式期间，使用未被识别为串扰支配式的该光检测器的该光二极管以产生对于在该光学接近传感器的感测区内检测一对象的存在、接近和/或运动有用的一光检测值或信号。与也使用该串扰支配式光二极管的情况相比较，通过不使用被识别为串扰支配式的该光二极管，会改良该光检测值或信号的信杂比。
具有重新组态二极管数组光学接近传感器

[发明专利]用于光学编码器的检测器阵列-CN200510099460.5有效
发明人： E·迈尔;R·E·弗兰克林 -专利权人：约翰尼斯海登海恩博士股份有限公司
申请日： 2005-08-26 - 公布日： 2006-03-01 - 主分类号： G01D5/26 文献下载
摘要：一种用于光学检测器的光电二极管检测器阵列，其包括多个光电二极管，其中各光电二极管可在检测器阵列相对于标度运动时提供位置信号。提供了多个开关元件，以便以限定的方式将各光电二极管与其它光电二极管选择性地组合起来。开关元件允许针对至少两个不同的标度半径而将光电二极管明确地组合起来，从而在每种情况下都产生限定数量的位置信号。光电二极管的组合在这至少两个不同的标度半径之间是不同的。
用于光学编码器检测器阵列

[发明专利]光检测器-CN201980032956.0在审
发明人：武田浩太郎;本田健太郎 -专利权人：日本电信电话株式会社
申请日： 2019-04-24 - 公布日： 2020-12-22 - 主分类号： H01L31/10 文献下载
摘要：本发明的课题在于，提供一种能防止由静电放电引起的破坏，预计提高100V以上的耐压的光检测器。本发明的光检测器的特征在于，在锗光电二极管(GePD)连接有由锗和硅构成的齐纳二极管。该光检测器共用光电二极管和齐纳二极管所具备的硅基板、下部包覆层、硅芯层、上部包覆层。
检测器

[发明专利]激光二极管模块、装置和包括相同装置的光学发射器-CN03128595.3无效
发明人：细谷敏裕;斋藤也寸志;樋口博文 -专利权人：株式会社日立国际电气
申请日： 2003-04-16 - 公布日： 2003-12-03 - 主分类号： H01S5/02 文献下载
摘要：在激光二极管模块中，激光二极管芯片设置在模块壳体中。加热器加热激光二极管芯片以使至少激光二极管芯片的温度保持恒定。温度检测器检测激光二极管模块的温度。温度控制器根据激光二极管模块的检测温度控制加热器的热值。温度控制器保持激光二极管模块的温度高于包含激光二极管模块的激光二极管装置的工作温度。
激光二极管模块装置包括相同光学发射器

[发明专利]光谱成像检测器-CN201510387113.6有效
发明人： R·A·马特森;R·P·卢赫塔;M·A·查波 -专利权人：皇家飞利浦电子股份有限公司
申请日： 2009-10-29 - 公布日： 2022-06-14 - 主分类号： G01T1/00 文献下载
摘要：一种包括光电二极管阵列(122)的一维多元件光电检测器(120)，所述光电二极管阵列(122)具有第一上部行光电二极管像素和第二下部行光电二极管像素。光电二极管阵列(122)是所述光电检测器(120)的一部分。闪烁器阵列(126)包括第一上部行闪烁器像素和第二下部行闪烁器像素。第一上部行闪烁器像素和第二下部行闪烁器像素分别与第一上部行光电二极管像素和第二下部行光电二极管像素光耦合。光电检测器(120)也包括读取电子装置(124)，所述读取电子装置也是所述光电检测器(120)的一部分。电迹线(512)将光电二极管像素与读取电子装置(124)互连。
光谱成像检测器

[发明专利]光谱成像检测器-CN200980145930.3有效
发明人： R·A·马特森;R·P·卢赫塔;M·A·查波 -专利权人：皇家飞利浦电子股份有限公司
申请日： 2009-10-29 - 公布日： 2011-10-12 - 主分类号： G01T1/20 文献下载
摘要：一种包括光电二极管阵列(122)的一维多元件光电检测器(120)，所述光电二极管阵列(122)具有第一上部行光电二极管像素和第二下部行光电二极管像素。光电二极管阵列(122)是所述光电检测器(120)的一部分。闪烁器阵列(126)包括第一上部行闪烁器像素和第二下部行闪烁器像素。第一上部行闪烁器像素和第二下部行闪烁器像素分别与第一上部行光电二极管像素和第二下部行光电二极管像素光耦合。光电检测器(120)也包括读取电子装置(124)，所述读取电子装置也是所述光电检测器(120)的一部分。电迹线(512)将光电二极管像素与读取电子装置(124)互连。
光谱成像检测器

[发明专利]稳压二极管稳压值检测器-CN201310006832.X无效
发明人：周芸 -专利权人：周芸
申请日： 2013-01-09 - 公布日： 2013-04-10 - 主分类号： G01R19/25 文献下载
摘要：本发明是关于一种稳压二极管稳压值检测器。该稳压二极管稳压值检测器的特征包括它由220V交流电、交流变压器、全波整流电路及滤波电路、限流电路及测试状态指示电路、被测稳压二极管检测端子和直流电源指示电路组成。本发明所述的稳压二极管稳压值检测器，它能测量1～100V范围内小功率稳压二极管的稳压值。为了直流电压值测试准确，本发明使用数字万用表的直流电压挡，数字电压表上读数既是被测稳压二极管的稳压值。本发明所述的稳压二极管稳压值检测器是一个特殊的测试电路，该检测装置可快速测试稳压二极管的稳定电压值，它比使用普通万用表等测试手段具有使用简单、测试准确的优点。
稳压二极管稳压检测器

[发明专利]液晶显示器-CN200880101373.0有效
发明人： M·巴特沃思 -专利权人：惠普开发有限公司
申请日： 2008-07-03 - 公布日： 2013-04-03 - 主分类号： G02F1/1333 文献下载
摘要：在一个实施例中，液晶显示器组件(150)包括液晶模块(170)、包括发光二极管(162、164、168)阵列的背光组件(160)、检测至少一个发光二极管的光学输出的检测器(156)、以及耦合到检测器(156)的控制器(152)，其中，控制器(152)包括在存储单元中记录在第一时间点来自检测器(156)的用于发光二极管(162、164、168)阵列中的多个发光二极管(162、164、168)的第一输出值、测量在第二时间点来自检测器(156)的用于发光二极管(162、164、168)阵列中的多个发光二极管(162、164、168)的第二输出值、并基于所述第一输出值与所述第二输出值之间的关系来调整到所述多个发光二极管(162、164
液晶显示器

[发明专利]具有光敏二极管阵列的检测器-CN200610130956.9有效
发明人：安德烈亚斯·弗罗因德;托马斯·希尔德谢德 -专利权人：西门子公司
申请日： 2006-10-16 - 公布日： 2007-09-12 - 主分类号： G01T1/164 文献下载
摘要：本发明涉及一种检测器，特别用于X射线辐射的检测器(5)，其具有光敏二极管阵列(10)，这些光敏二极管就其光敏接收面的尺寸而言相当于一个像素，其中，每个光敏二极管(20)以相同的方式划分成至少两个子光敏二极管(21、22)，以及其中每个光敏二极管(21、22)具有至少一个电开关(23)，使得光敏二极管(20)的仅一个或者所有子光敏二极管(21、22)与分析电路(13)连接。
具有光敏二极管阵列检测器

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