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[实用新型]一种有效访问多个芯片的装置-CN200820176385.7无效
发明人：宁顺卫 -专利权人：中兴通讯股份有限公司
申请日： 2008-11-12 - 公布日： 2009-09-02 - 主分类号： H04L12/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种有效访问多个芯片的装置，包括：控制器、管理接口和至少一个芯片，还包括切换开关，所述切换开关接收所述控制器的开关控制信号，选择接通所述管理接口和任一个所述芯片。本实用新型解决了现有技术中因为多个芯片需要管理所导致的管理地址不够或冲突的缺陷，能够提高管理接口访问芯片的通用性、灵活性、实用性和经济性，降低系统成本和电路设计难度。
一种有效访问芯片装置

[发明专利]使用液晶的光纤到芯片的有效对准-CN201380007957.2有效
发明人：罗伊·米迪;古尔特杰·桑胡 -专利权人：美光科技公司
申请日： 2013-01-17 - 公布日： 2017-10-03 - 主分类号： G02B6/30 文献下载
摘要：本发明揭示通过使用一或多个液晶层来将光束从光纤有效地导引到集成于芯片上的光学波导而执行光学对准的装置及系统。芯片上反馈机构可在所述光纤与基于光栅的波导之间导引所述光束以最小化所述系统的插入损耗。
使用液晶光纤芯片有效对准

[发明专利]用于芯片上系统设计的有效中断系统-CN02814889.4无效
发明人： R·詹森;A·德奥利维拉;T·奥德维尔 -专利权人：皇家菲利浦电子有限公司
申请日： 2002-07-02 - 公布日： 2004-10-06 - 主分类号： G06F13/26 文献下载
摘要：在芯片上系统设计中用于管理中断的方法(400)和系统(10)，包括与多个外部设备(120a，120b，…120m)相耦合的多个处理器(100a，100b，…100n)。
用于芯片系统设计有效中断

[实用新型]一种光刻板-CN202120544009.4有效
发明人：易翰翔;武杰;郝锐;李玉珠;陈慧秋 -专利权人：广东德力光电有限公司
申请日： 2021-03-15 - 公布日： 2021-10-26 - 主分类号： G03F1/42 文献下载
摘要：本实用新型涉及光刻板技术领域，公开了一种光刻板，包括基板、有效芯片和无效芯片，基板由有效区域和无效区域组成，有效区域为以基板的中心为圆心的圆形区域，无效区域为位于有效区域的外周的环形区域，有效芯片设有多个，多个有效芯片设置在有效区域上，无效芯片设有多个，多个无效芯片设置在无效区域上。本实用新型将无效芯片设置在位于有效区域外周的无效区域内，在无效区域内使用无效芯片替代有效芯片，有效防止有效芯片在无效区域内发生污染或无效化而出现异常，无需目检，节约了时间，降低返修率，降低成本，提高生产效率和产品质量
一种刻板

[发明专利]一种LED芯片、显示模块及显示屏-CN202010960392.1有效
发明人：胡现芝;刘权锋;王印;卢敬权 -专利权人：东莞市中晶半导体科技有限公司
申请日： 2020-09-14 - 公布日： 2022-08-16 - 主分类号： H01L33/14 文献下载
摘要：本发明公开了一种LED芯片、显示模块及显示屏，LED芯片包括：电流局域注入层，用于使有效发光区面积与LED芯片发光区面积的比值小于预设值；有效发光区位于LED芯片的中心，LED芯片发光区周围非电极区域的外延层根据有效发光区的形状塑形通过设置电流局域注入层，以控制有效发光区面积与LED芯片发光区面积的比值小于预设值，以保证芯片发光亮度的同时使得LED芯片工作在线性区域；并且，有效发光区位于LED芯片的中心，LED芯片发光区周围非电极区域的外延层根据有效发光区的形状塑形，以使有效发光区尽可能地远离衬底边沿，从而减少LED芯片侧向出光，简化后端LED显示模块、显示屏应用的设计及工艺复杂性。
一种 led 芯片显示模块显示屏

[发明专利]半导体器件的制造方法-CN201180039092.9有效
发明人：为则启 -专利权人：富士电机株式会社
申请日： 2011-09-20 - 公布日： 2013-04-24 - 主分类号： H01L21/301 文献下载
摘要：在半导体晶片（1）的周边形成无效芯片（22），在由无效芯片包围的区域中形成有效芯片（21），在有效芯片和无效芯片上形成表面电极，且在限定有效芯片和无效芯片的切割线（23）上设置绝缘膜（7）。形成具有从半导体晶片的外周端部起算的一预定宽度的聚酰亚胺（26），所述聚酰亚胺覆盖半导体晶片的外周部，从而聚酰亚胺从半导体晶片的外周端部向内连续地覆盖无效芯片、并且聚酰亚胺还连续地覆盖位于夹在无效芯片之间的切割线上且相对于有效芯片位于与半导体芯片的外周端部相距一预定距离处的部分在有效芯片上形成的表面电极涂敷有金属膜，并且使用刀片沿着切割线将半导体晶片切分成半导体芯片。
半导体器件制造方法

[发明专利]一种晶圆测试结果加严修正筛选方法-CN202011233459.8在审
发明人：欧阳睿;肖金磊;许秋林;郭耀华;陈凝;马迁 -专利权人：紫光同芯微电子有限公司
申请日： 2020-11-06 - 公布日： 2022-05-06 - 主分类号： G06F30/392 文献下载
摘要：本发明一种晶圆测试结果加严修正筛选方法，使用Map工具软件，定义边缘失效芯片、连续失效芯片、孤立有效芯片的特征识别算法模型，并基于边缘失效芯片、连续失效芯片、孤立有效芯片所在区域的图形识别，可对该区域通过晶圆测试的有效芯片进行修正，从而将连续失效芯片区域边界上的晶圆测试结果进行加严修正后转置输出，使得晶圆测试结果与工艺关联，并将潜在失效芯片过滤，从而提高识别失效芯片的效率和芯片产品输出的整体可靠性。
一种测试结果修正筛选方法

[发明专利]工作量证明运算芯片集群数据动态重构方法、系统和装置-CN202011080212.7在审
发明人：汪福全;刘明;蔡凯 -专利权人：中科声龙科技发展（北京）有限公司
申请日： 2020-10-10 - 公布日： 2021-01-12 - 主分类号： G06F15/173 文献下载
摘要：本申请涉及一种工作量证明运算芯片集群数据动态重构方法、系统和装置，所述方法包括：根据工作量证明运算芯片集群中有效的芯片数量和所述集群中所存储的数据总量确定分配至每个有效芯片的数据量；根据所述分配至每个有效芯片的数据量，按照预设顺序对每个有效芯片的数据进行存储。本申请提供的技术方案，可以使工作量证明运算芯片集群在部分失效的情况下正常使用，提高工作量证明运算芯片集群的鲁棒性。
工作量证明运算芯片集群数据动态方法系统装置

[发明专利]SLMs阵列拼接方法、拼接件及其拼接架-CN201910822932.7有效
发明人：王辉;李勇;熊骇韬;孙利强 -专利权人：杭州辰景光电科技有限公司
申请日： 2019-09-02 - 公布日： 2021-09-07 - 主分类号： G03H1/22 文献下载
摘要：本发明公开了一种SLMs阵列拼接方法，包括：S1：按照预先设定的基准位置安装第一显示芯片组，光线直接照明第一显示芯片组的有效显示面；S2：光线经第一反射单元反射至第二显示芯片组的有效显示面，光线经第二反射单元反射至第三显示芯片组的有效显示面；S3：第二显示芯片组和第三显示芯片组的有效显示面镜像与第一显示芯片组的有效显示面在同一个平面内，第二显示芯片组和第三显示芯片组的有效显示面边缘的镜像与第一显示芯片组的有效显示面的对应边缘无缝连接，各个元件的边缘对入射光未有遮挡
slms 阵列拼接方法及其

[发明专利]一种可有效避免碲镉汞红外探测器芯片边角裂纹的方法-CN202111664539.3在审
发明人：龚汉红;陈世锐;陈路;杜宇;毛剑宏 -专利权人：浙江珏芯微电子有限公司
申请日： 2021-12-31 - 公布日： 2022-04-08 - 主分类号： H01L31/18 文献下载
摘要：本发明提供了一种可有效避免碲镉汞红外探测器芯片边角裂纹的方法，包括如下步骤：S1：对碲镉汞芯片的正面和/或背面进行接近式光刻，使碲镉汞芯片的正面和/或背面周边产生至少一圈边框图形，边框图形位于芯片有效成像区域的外周并与芯片有效成像区域之间留有间距；S2：将光刻后的碲镉汞芯片通过湿法腐蚀的工艺手段，使步骤S1中的边框图形转移至碲镉汞芯片的正面和/或背面，将碲镉汞芯片正面和/或背面中位于芯片有效成像区域周围的碲镉汞材料进行腐蚀并在边框图形位置形成凹槽；S3：凹槽腐蚀完毕，清洗后将碲镉汞芯片进行下一步芯片工序。该方法可使划片时崩边产生的裂纹隐患阻隔在碲镉汞芯片的芯片有效成像区域外，提升了碲镉汞芯片制备的合格率。
一种有效避免碲镉汞红外探测器芯片边角裂纹方法

[发明专利]一种芯片半自动同步方法及系统-CN201810520191.2有效
发明人：李斌;纪小明 -专利权人：中国电子科技集团公司第二十九研究所
申请日： 2018-05-28 - 公布日： 2020-03-27 - 主分类号： H04J3/06 文献下载
摘要：本发明公开了一种芯片半自动同步方法及系统，芯片加电后先配置主芯片MU控制器，当MU锁定后控制主芯片SYCN_OUT输出4个相位，遍历每个相位找到对应的SYNC_IN有效窗口，找出4个输出相位中最长的SYNC_IN有效窗口，将主芯片SYNC_OUT输出相位配置成最长SYNC_IN有效窗口对应的相位，同时将SYNC_OUT输出延迟配置为有效窗口的中心位置，配置主芯片Rx控制器并达到锁定状态，配置从芯片MU控制器，配置参数与主芯片MU配置值一样，配置从芯片同步控制器工作在自动从片模式，并保证同步控制器达到同步锁定状态，配置从芯片Rx控制器并达到锁定状态。本发明能够有效解决AD9739芯片在低采样率下的同步问题，保证多个AD9739芯片在800MHz～1100MHz采样率下都能够正常同步。
一种芯片半自动同步方法系统

[发明专利]全自动激光器Bar条芯片点数方法及其装置-CN202210002938.1在审
发明人：冯伟 -专利权人：武汉琢越光电有限公司
申请日： 2022-01-05 - 公布日： 2022-02-08 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种全自动激光器Bar条芯片点数方法及其装置。本发明提供的Bar条芯片点数方法，包括获取Bar条的芯片初始数据；获取Bar条的图像信息，对图像信息进行灰度处理，得到Bar条的芯片灰度特征值，并判断Bar条两端芯片是否为有效芯片；当Bar条两端的芯片均为有效芯片时，测量Bar条两端有效芯片在Bar条长度方向的最大距离，作为Bar条有效长度；计算得到Bar条芯片数量。本申请提供的全自动激光器Bar条芯片点数方法，利用获取到的Bar条的芯片灰度特征值对Bar条两端的芯片进行判断，提高识别的准确度，减少人工在显微镜下操作带来的误判，同时简化计算过程，提高计算速度，提升工作效率
全自动激光器 bar 芯片点数方法及其装置

[发明专利]显示装置-CN202111219083.X在审
发明人：赵炫昱;金珉洪;金兑俊;朴正睦;朴珍佑 -专利权人：三星显示有限公司
申请日： 2021-10-20 - 公布日： 2022-05-13 - 主分类号： H01L27/32 文献下载
摘要：输入传感器包括：检测电极，在输入传感器的有效区中；信号线，连接到检测电极；从芯片，连接到信号线且与相邻于有效区的非有效区叠置；主芯片，与非有效区叠置；以及多条连接线，将主芯片和从芯片连接，使得检测电极的感测信号通过从芯片传送到主芯片
显示装置

[发明专利]一种提升衬底有效芯片数目的曝光方法-CN201810574721.1在审
发明人：王溯源;俞勇;章军云;黄念宁 -专利权人：中国电子科技集团公司第五十五研究所
申请日： 2018-06-06 - 公布日： 2018-12-07 - 主分类号： G03F7/20 文献下载
摘要：本发明涉及一种提升衬底有效芯片数目的曝光方法，包含如下步骤：1）制作掩模版：所述掩模版的每层光刻图形包含纯芯片层和PCM层两种版图，两种版图尺寸相同；2）设定曝光位置：按照PCM测试位置的要求，在需进行PCM测试的位置设定曝光PCM层，其他区域设置曝光对应的纯芯片层；3）设定曝光参数：分别设置PCM层和纯芯片层曝光参数；4）PCM测试。优点：1）有效降低圆片上PCM图形占空比，提高单位圆片有效芯片数目，实现成本节约和效率提升。2）不限于圆片衬底，不限于光刻机品牌和型号等，适用于所有采用步进式曝光和PCM测试技术的半导体制造工艺。
有效芯片芯片层衬底曝光曝光参数掩模版圆片半导体制造工艺接触式光刻机步进式曝光测试测试技术测试位置成本节约光刻图形曝光位置区域设置位置设定效率提升掩模制作单位圆光刻机占空比品牌制作

[发明专利]一种安全芯片物理防护布线的有效方法-CN201611151922.8在审
发明人：王勇;侯劲松;张萍;李宁 -专利权人：天津蓝海微科技有限公司
申请日： 2016-12-14 - 公布日： 2017-05-31 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：本发明涉及集成电路IC芯片设计中安全相关领域，以及集成电路辅助设计软件工具中布局布线领域。为了防止针对IC芯片的上电物理攻击，芯片设计厂商提出了版图保护电路的概念，即在顶层金属层加入一层防护层金属，该防护层的信号线受到持续的监控，一旦该信号被破坏，芯片会自动开启报警电路，实行电路自我毁坏，防止非法操控数据本发明提出一种安全芯片物理防护布线的有效方法。在矩形布线区域内，依次生成一组垂直的线，每根线由一段段水平的台阶状布线构成，相邻两根线间的台阶相互形成交叉。
一种安全芯片物理防护布线有效方法

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