专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种基于稀疏和低秩表示图的高光谱数据降维方法-CN201510977094.2有效
  • 李伟;刘佳彬 - 北京化工大学
  • 2015-12-23 - 2019-04-26 - G06K9/62
  • 一种基于稀疏和低秩表示图的高光谱数据降维方法,通过L1范数获取稀疏表示特性,低秩表示的具有保持全局数据结构的特征,本方法通过核范数保持图的低秩特性。本方法包括如下技术内容,1)从原始的高光谱数据中选取一定量的数据用作训练样本。2)对所选的训练样本进行稀疏和低秩表示图的构造。3)通过最优化准则,寻求最优的投影矩阵,使在投影后的低维流形空间里保持2中所构造的图的特性。在原始空间中学习到的样本点间稀疏和低秩表示的特性,通过寻求一个变换投影矩阵,把数据投影到低维流形空间,同样也保持样本点间稀疏和低秩表示的特性
  • 一种基于稀疏表示光谱数据方法
  • [发明专利]半导体集成电路装置-CN200980136123.5无效
  • 福冈耕平 - 松下电器产业株式会社
  • 2009-07-10 - 2011-08-17 - H01L21/822
  • 本发明提供一种半导体集成电路装置,其包括:需要数据保持状态的电路主体(1);测量电路主体(1)的数据保持状态的数据保持特性评价电路(3);测量电路主体(1)的漏电流的漏电流评价电路(2);进行电路主体(1)的电压供给电路(6)的控制的电压控制信号生成电路(5);和存储漏电流评价电路(2)与数据保持特性评价电路(3)的测量结果的存储电路(4),电压控制信号生成电路(5)基于存储电路(4)的存储数据,对电压供给电路
  • 半导体集成电路装置
  • [发明专利]裸片元件供给装置-CN201680091271.X有效
  • 早川昌志 - 株式会社富士
  • 2016-12-06 - 2023-04-25 - H01L21/67
  • 裸片元件供给装置(1)具备:晶片保持部(2),具有:能够伸缩的元件保持片(23),在上表面保持通过切割半导体晶片而形成的多个裸片元件(D);及支撑元件保持片的周缘的支撑环(22);吸嘴(5),从元件保持片逐个地吸附裸片元件;拍摄相机(6),对于吸嘴吸附的裸片元件在被吸附之前与周围的状况一起进行拍摄而取得元件图像数据;驱动部(4),使吸嘴及拍摄相机相对于晶片保持部相对移动;及数据处理存储部(87),将与多个裸片元件对应地分别取得的多个元件图像数据或者对多个元件图像数据分别进行图像处理而求出的多个元件特性数据汇总为晶片特性数据
  • 元件供给装置

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