专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]薄膜晶体管及其制作方法、显示器件-CN202110935939.7有效
  • 邹富伟;魏悦;唐霞 - 成都京东方光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司
  • 2021-08-16 - 2023-07-25 - H01L21/336
  • 本发明提供一种薄膜晶体管及其制作方法、显示器件,该制作方法包括:形成栅极、有源层、源极和漏极的图形;有源层包括:源极接触、漏极接触和位于源极接触和漏极接触之间的沟道区域,源极接触和漏极接触包括:层叠设置的非晶硅层和非晶硅掺杂层,非晶硅层和非晶硅掺杂层通过对一非晶硅薄膜的表面进行离子注入得到,其中,非晶硅薄膜的被离子注入的上层膜层形成非晶硅掺杂层,未被离子注入的下层膜层形成非晶硅层;沟道区域包括非晶硅层,沟道区域的非晶硅层与源极接触和漏极接触的非晶硅层相连。本发明能够改善源漏电极和有源层之间的接触电阻,有利于非晶硅薄膜晶体管的性能的提高。
  • 薄膜晶体管及其制作方法显示器件
  • [发明专利]形成集成组合件的方法-CN202010018254.1在审
  • D·C·潘迪;K·M·卡尔达;刘海涛 - 美光科技公司
  • 2020-01-08 - 2020-09-15 - H01L21/8242
  • 所述导电块中的每个导电块位于包含一对存储元件接触和一个数位线接触的组之上。所述导电块中的每个导电块被第一绝缘材料完全侧向包围。移除所述导电块的中心区域,以将所述导电块中的每个导电块分成位于所述存储元件接触中的一个存储元件接触之上的第一导电部分和位于所述存储元件接触中的另一个存储元件接触之上的第二导电部分。将数位线与所述数位线接触耦合,并且将存储元件与所述存储元件接触耦合。
  • 形成集成组合方法
  • [实用新型]一种防止退接线端子-CN202222255841.X有效
  • 海飞 - 皇裕精密技术(苏州)有限公司
  • 2022-08-26 - 2022-12-20 - H01R4/48
  • 本实用新型公开了一种防止退接线端子,属于电气技术领域,所述接线端子设置于电机定子组件上;所述接线端子包括夹持端和连接端,所述夹持端上开设有用于固定导线的开口,所述开口沿夹持端向连接端部分延伸;所述开口包括依次设置的导向区域、防退区域接触,所述导向区域的宽度沿靠近防退区域方向逐渐收窄;所述防退区域宽度小于接触的宽度;所述接触底部闭合;所述导线依次经过导向区域和防退区域后固定于接触;当导线通过防退区域进入接触,防退区域的接线端子弹性端子回弹,抵挡住接线端子在受外力时退出接触,从而避免了导线与接线端子连接过程中出现滑脱。
  • 一种防止接线端子
  • [发明专利]存储器装置-CN202010527845.1在审
  • 尹敬和;郭判硕;金灿镐;姜东求 - 三星电子株式会社
  • 2020-06-11 - 2021-02-09 - H01L27/11529
  • 一种存储器装置,所述存储器装置包括:外围电路区域,包括第一基底和位于第一基底上的电路元件,电路元件包括行解码器;单元阵列区域,包括字线和沟道结构,字线堆叠在外围电路区域上的第二基底上,沟道结构在与第二基底的上表面垂直的方向上延伸并穿透字线;以及单元接触,包括单元接触件,单元接触件连接到字线并位于单元阵列区域的在与第二基底的上表面平行的第一方向上的两侧上,单元接触包括第一单元接触和第二单元接触,第一单元接触和第二单元接触在第一方向上具有彼此不同的长度
  • 存储器装置
  • [发明专利]校准测试装置测试频道之校准装置及测试系统-CN200410071689.3有效
  • G·弗兰科维斯基;T·布克施;G·布雷萨姆伦 - 因芬尼昂技术股份公司
  • 2004-07-21 - 2005-02-09 - G01R35/00
  • 本发明关于校准装置用以校准测试装置之测试频道,使一衬底晶片上之集成组件可为了以电子信号测试而被接触连接,该校准装置具有一连接装置以及具有一第一接触及与该第一接触隔离之一第二接触之一平面接触载体,其可经由该连接装置被电连接,该连接装置适用于连接该第一及第二接触至该测试装置,该第一接触实质上由该第二接触包围,因此,当连接至该测试装置之一针卡被放置于该校准装置之该接触载体之上时,该针卡之连接至将被校准之测试频道之一接触连接针被设置于该第一接触之上,且实质上复数或所有该针卡之位于未被校准之测试频道之其它接触针被放置于该第二接触
  • 校准测试装置频道系统

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