专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种钨钢冲针装置-CN202122901507.2有效
  • 戴林峰;马云飞 - 无锡市普高精密机械科技有限公司
  • 2021-11-24 - 2022-06-10 - B24B29/02
  • 本实用新型公开了一种钨钢冲针装置,包括磨柱、挡液体、底布板和侧布板;磨柱呈水平姿态可旋转设置;挡液体整体呈倒等腰三角体结构状,其设置于磨柱的右上侧;底布板顶面设置有沿磨柱的轴向方向排布的上喷口,且其设置于磨柱的右下侧并位于挡液体正下方;侧布板设置于磨柱的正上方,侧布板正对挡液体的侧面设置有一排侧喷口,从侧喷口喷出的防护朝向挡液体的斜侧面;还包括测量工位和弹性辅助连接件,弹性辅助连接件连接在挡液体的前端部位,钨钢冲针安装在辅助连接件上进行打磨。本实用新型提供的一种钨钢冲针装置,有效提高抛光打磨质量与精度,适于规模化推广。
  • 一种钨钢冲针精抛装置
  • [发明专利]冲压模具耐磨冲针的高效、精密成型工艺方法及成型系统-CN202210063509.5在审
  • 戴林峰;马云飞 - 无锡市普高精密机械科技有限公司
  • 2022-01-20 - 2022-05-13 - B21C1/02
  • 本发明公开了冲压模具耐磨冲针的高效、精密成型工艺方法及成型系统,包括操作台,操作台上依次设置有清角工位、工位和测量工位,清角工位与工位之间设置有上、下对应的冲击体与底布板;清角工位设置有清角磨柱和侧布板一,工位设置有磨柱和侧布板二,侧布板一位于清角磨柱上方,侧布板二位于磨柱上方,侧布板一与侧布板二对称设置于冲击体两侧,冲击体位于清角磨柱与磨柱之间的上方,底布板位于清角磨柱与磨柱之间的下方本发明集冲针清角、、测量为一体,大大提高冲针生产加工效率,而且加工防护性能好,大大提高加工精度与产品良率。
  • 冲压模具耐磨高效精密成型工艺方法系统
  • [发明专利]一种非晶合金的抛光方法-CN202010273340.7在审
  • 梁广平;杨兴;董大伟;高宽 - 东莞市逸昊金属材料科技有限公司
  • 2020-04-09 - 2020-06-26 - B24B1/00
  • 本发明公开了一种非晶合金的抛光方法,包括如下步骤:步骤1:采用开粗抛光,在开粗研磨盘上对非晶合金进行开粗;步骤2:采用第一中抛光,在第一中研磨盘上对非金合金进行一次中;步骤3:采用第二中抛光,在第二中研磨盘上对非晶合金进行二次中;步骤4:采用抛光,在研磨盘上对非晶合金进行。本发明提供了一种非晶合金的抛光方法,通过增设二次中步骤以修复在先步骤在非晶产品上留下的加工痕迹,缩短了步骤的所需时长,因此避免了因时间过长造成的产品性能受损。
  • 一种合金抛光方法
  • [发明专利]一种锗晶片的双工艺、装置及锗晶片-CN202210244203.X在审
  • 杨红英 - 北京爱瑞思光学仪器有限公司
  • 2022-03-11 - 2022-09-20 - B24B1/00
  • 本申请公开了一种锗晶片的双工艺、装置及锗晶片,用于同时对锗晶片进行双面抛光,其中,包括:第一粗工序采用第一粗抛光和第一抛光布;第二粗工序采用第二粗抛光和第一抛光布;第一工序采用第一细抛光和第二抛光布;第二工序采用第二细抛光和第二抛光布;各工序中转速的关系为:第一粗工序<第二粗工序<第一工序<第二工序;第一抛光布的硬度大于第二抛光布的硬度;各工序中抛光温度为35℃~40℃。本申请实施例提供的锗晶片的双工艺,采用两次粗和两次的组合方式,通过匹配不同的参数,实现化学抛光和机械抛光之间的匹配,实现锗晶片的快速抛光,并取得较好的表面质量。
  • 一种晶片工艺装置
  • [发明专利]抛光及应用该抛光对CdS晶片抛光的抛光方法-CN201210444934.5无效
  • 李晖;徐永宽;程红娟 - 中国电子科技集团公司第四十六研究所
  • 2012-11-09 - 2013-03-06 - C09G1/02
  • 本发明公开了一种用于化学机械抛光的抛光,包括用于粗的抛光和用于的抛光;其中:所述粗的抛光包括:纳米磨料5~10wt%,氧化剂为1.5~3wt%,表面活性剂0.01wt%,pH调节剂,余量为去离子水,粒度为60~100nm,PH值为9.5;所述的抛光包括:纳米磨料1~5wt%,氧化剂为0.5~1.5wt%,表面活性剂0.01wt%,PH调节剂,余量为去离子水,粒度为15~30nm,pH值为9.5;应用上述的抛光对CdS晶片进行化学机械抛光的方法,抛光方法包括:对待抛光的CdS晶片利用粗抛光进行粗,以及对粗后的CdS晶片利用抛光进行;其中,进行粗抛光和抛光时,抛光压力为60~120g/cm2,转速60~100转/分钟,对应抛光的流量50~200ml/min。本发明的抛光工艺简单,容易操作,使用的抛光损伤小。
  • 抛光应用cds晶片方法

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