专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]测距装置-CN202010020936.6在审
  • 小笠原阳介 - 株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社
  • 2020-01-09 - 2021-03-05 - G01S11/02
  • 实施方式的测距装置具有滤波器、第1切换电路、阻抗可调整电路、第2切换电路、第3切换电路以及第4切换电路。滤波器将从发送电路发送的测距用信号以及由天线接收到的测距用信号限制为所希望的频带。阻抗可调整电路被调整成比上述天线的阻抗高的阻抗。第2切换电路切换阻抗可调整电路与发送电路之间的、非。第3切换电路切换阻抗可调整电路与接收电路之间的、非。第4切换电路切换阻抗可调整电路与第2切换电路以及第3切换电路之间的、非
  • 测距装置
  • [发明专利]电子部件-CN201610952491.9有效
  • 向井祐介 - 株式会社村田制作所
  • 2016-11-02 - 2020-06-16 - H03H7/09
  • 本发明所涉及的电子部件的特征在于,具备:层叠体;被设置于层叠体的滤波器;被设置于层叠体的输入输出端子;以及阻抗匹配用环孔电感器,是被设置于层叠体且连接在滤波器与输入输出端子之间的阻抗匹配用电感器,该阻抗匹配用环孔电感器包括阻抗匹配用电感器导体层、以及从阻抗匹配用电感器导体层朝向层叠方向延伸的第一阻抗匹配用孔导体和第二阻抗匹配用孔导体,不设置由与第一阻抗匹配用孔导体和第二阻抗匹配用孔导体分别连接的2个以上的导体层构成的电容器。
  • 电子部件
  • [实用新型]耳机线阻抗测试装置-CN201620874603.9有效
  • 吴小斌 - 东莞市汇博电子科技有限公司
  • 2016-08-12 - 2017-05-03 - H04R29/00
  • 本实用新型公开一种耳机线阻抗测试装置,包括测试仪,所述测试仪包括用于与待测耳机线的插头适配的耳机插座、用于与耳机线电连接的点测探头、用于计算耳机线阻抗值的阻抗计算模块和用于显示阻抗值的显示屏,所述阻抗计算模块设于测试仪内,并与测试仪内的CPU连接,测试时,所述耳机插座和点测探头均与阻抗计算模块电连接,待测耳机线的插头与耳机插座插接,所述点测探头与待测耳机线上的线芯依次点接,显示屏由CPU控制依次显示耳机线上的线芯的阻抗值本实用新型使得测试仪不但可以测试耳机线的,还可以通过测出耳机线中各线芯的阻抗值,从而可以对耳机的通话性能进行判断,方便企业对耳机线的生产进行改进。
  • 耳机线阻抗测试装置
  • [实用新型]一种油冷电机及汽车-CN202221025653.1有效
  • 彭杰;王雪东;卢有君 - 重庆长安汽车股份有限公司
  • 2022-04-30 - 2022-09-06 - H02K5/22
  • 本实用新型涉及一种油冷电机及汽车,包括电机轴、电机接线盒和电机壳体,所述电机接线盒与电机壳体,所述电机壳体接地,所述电机轴的端部伸入所述电机接线盒的内部,还包括部,所述部位于所述电机接线盒内部,且所述部与所述电机轴的端部以及电机接线盒的侧壁均,所述部的阻抗小于所述油冷电机的轴承的阻抗。本实用新型通过旁路电流的方案,因阻抗小于轴承阻抗,可将电机轴电流通过部引到电机壳体,避免轴电流经过轴承,对轴承造成损伤。
  • 一种电机汽车
  • [发明专利]半导体器件蒸镀缺陷的检测方法-CN202111131340.4在审
  • 李晓锋;蓝浩涛 - 浙江里阳半导体有限公司
  • 2021-09-26 - 2021-12-31 - H01L21/66
  • 一种半导体器件蒸镀缺陷的检测方法,包括对蒸镀完成的待测芯片进行加温,使所述待测芯片的阻抗增大,获取所述待测芯片的测量阻抗数据,根据所述测量阻抗数据判断所述待测芯片中是否存在蒸镀缺陷。由于通过使待测芯片升温,使得所述待测芯片内部的水气会在高温下呈现热胀冷缩,并且由于瞬间高电流的原因,污染、油渍等会出现碳化,从而使得待测芯片中接触不良的情形能够提前显现出来,增加了通电阻的明显度,这样使得在电测时能够检测出电阻偏高的芯片,即这样才能够测量出来待测芯片的测量阻抗数据,通过获取待测芯片的测量阻抗数据,从而能够确认晶圆上蒸镀的金属是否接触良好。
  • 半导体器件缺陷检测方法
  • [发明专利]一种电路板及其阻抗量测方法-CN201510549412.5有效
  • 金立奎 - 北大方正集团有限公司;珠海方正科技高密电子有限公司
  • 2015-08-31 - 2019-03-08 - H05K3/46
  • 本发明公开了一种电路板及其阻抗测量方法,该方法包括在设置有阻抗线的第一内层线路板的外侧压合第二内层线路板,在所述第二内层线路板上对应所述第一内层线路板的阻抗线的位置设置有第一孔,所述第一孔与所述阻抗线电连接;通过所述第一孔对压合后的第一内层线路板和第二内层线路板进行阻抗测量。由此,可以在压合第二内层线路板时通过该第一孔来对阻抗线进行阻抗测量,从而可以在电路板生产过程的各个环节实现对阻抗的量测管控,不增加生产成本,无需最终压合成形后便可以提前了解线路板内层生产过程中的阻抗状况
  • 一种电路板及其阻抗方法

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