专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]通过透镜平面的值恢复天线测量系统中相位的方法-CN202110564181.0有效
  • 俞俊生;姚远;于海洋;陈雨晴;陈天洋;陈晓东 - 北京邮电大学
  • 2021-05-24 - 2022-04-05 - G01R29/10
  • 本发明实施例提供了一种通过透镜平面的值恢复天线测量系统中相位的方法。具体的,首先用探头采集介质透镜平面的实际值,再将计算机随机生成的初始值与初始相位作为初始场的场强,再将上述初始场经介质透镜传输至平面,计算出频域相位以及频域值,将计算得到的频域值和频域相位作为频域场的场强,并基于由预设平面的频域场得到的空域场的场强与对应平面实际场的场强,计算异构输入场的场强,再采用GS‑HIO算法对上述异构输入场进行预设次数迭代计算,得到相位恢复结果。本发明实施例中,采用GS‑HIO算法恢复相位,可加快算法的收敛速度,且通过多次迭代计算,提高了通过值恢复相位的准确性。
  • 通过透镜平面恢复天线测量系统相位方法

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