专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]同位组分含量的质谱分析方法-CN202211010318.9在审
  • 郭炜;杨洪广;占勤;李卓希;路建新;魏乐芙;李曙丹;姚棨临;徐鹏程;王羽锋 - 中国原子能科学研究院
  • 2022-08-23 - 2022-11-08 - G01N27/62
  • 本发明的实施例公开了一种氢同位组分含量的质谱分析方法。该方法包括:将氢同位的混合气体经过钯分离柱分离后的气体进样至质谱仪,以进行检测;其中,混合气体含有氢、氘、氚中的两种氢同位质谱仪检测从钯分离柱依次流出的气体成分,得到质谱数据;根据质谱数据中各气体成分对应的不同质荷比的离子流强度以及进样压力,标定混合气体中各同位气体的分压与离子流强度的线性关系;将待测气体经过钯分离柱分离后进样至质谱仪,得到待测气体的质谱数据,根据质谱数据中不同质荷比的离子流强度以及标定的线性关系,确定各同位气体的分压;根据各同位气体的分压以及进样压力,确定待测气体中各氢同位组分的丰度。
  • 氢同位素组分含量谱分析方法
  • [发明专利]一种质谱仪校正样品的制备方法-CN200910241931.X无效
  • 易洪 - 中国计量科学研究院
  • 2009-12-15 - 2010-06-09 - G01N27/62
  • 一种质谱仪校正样品的制备方法,以待测元素每种同位在待测样品中的丰度为配比,称取待测元素的两种以上同位的浓缩同位原料,一起与BrF5在镍管反应器中通过一步反应直接制备成含有待测元素的气态校正样品;所述的镍管反应器容积是常规镍管反应器容积的利用本发明方法制备的校正样品能够显著提高同位丰度比值测量中质谱仪的校正水平,进而提高了质谱仪测量的准确度,满足了单晶硅摩尔质量测量的要求。
  • 一种质谱仪校正样品制备方法
  • [发明专利]CO气体中同位丰度的测量方法-CN202211572020.7在审
  • 胡石林;武超;任英;张平柱;张福星;熊伟 - 中国原子能科学研究院
  • 2022-12-08 - 2023-06-23 - G01N27/62
  • 本申请的实施例提供一种CO气体中同位丰度的测量方法。该测量方法包括:利用质谱仪对CO气体进行检测,得到检测信号值,其中,所述CO气体从目标塔的目标位置获取,所述目标塔的目标位置包括以下任意之一:一级精馏塔的塔底、一级精馏塔的塔顶、二级精馏塔的塔底;所述CO气体包括全部CO同位组分;根据精馏CO气体时所述目标塔的工作原理,从所述全部CO同位组分中,筛选得到目标CO同位组分;根据所述质谱仪的检测限以及目标CO同位组分的自然丰度值,确定所述目标CO同位组分的丰度值;根据所述检测信号值和所述目标CO同位组分的丰度值,确定所述CO气体中碳同位的丰度值和氧同位的丰度值。
  • co气体同位素测量方法

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