专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种超微量硫同位分析系统及分析方法-CN202010830113.X有效
  • 范昌福;武晓珮;胡斌;高建飞;李延河 - 中国地质科学院矿产资源研究所
  • 2020-08-18 - 2023-08-29 - G01N30/02
  • 本发明公开了一种超微量硫同位分析系统及分析方法,属于稳定同位测试技术领域,解决了现有分析方法的样品用量大、实际样品利用率低、耗材成本高且无法实现超微量硫同位分析测试的问题。超微量硫同位分析系统包括元素分析仪、第一气体预浓缩纯化装置、色谱柱、第二气体预浓缩纯化装置和质谱仪;元素分析仪与第一气体预浓缩纯化装置连接,第一气体预浓缩纯化装置通过色谱柱与第二气体预浓缩纯化装置连接,第二气体预浓缩纯化装置通过万用接口与质谱仪连接。本发明的样品用量少、分析效率高、耗材成本低且能够实现超微量硫同位分析测试,分析精度优于0.40‰(1σ),达到国际同类实验室先进水平。
  • 一种微量同位素分析系统方法
  • [实用新型]一种同位质谱仪-CN202020503645.8有效
  • 徐刚;田力;邱清 - 启迪新核(北京)能源科技有限公司
  • 2020-04-08 - 2020-12-11 - H01J49/26
  • 本实用新型公开了一种同位质谱仪,包括质谱仪本体和底座,所述质谱仪本体下端的两侧对称开设有卡合槽,所述底座的下表面对称连接有移动轮,底座的上表面的两侧对称连接有限位板,所述限位板之间连接有前后挡板,限位板的两侧对称连接有短板本同位质谱仪,通过橡胶垫与质谱仪本体的侧壁接触,采用卡合块与卡合槽卡合的结构固定质谱仪本体和底座,方便质谱仪本体拆卸,并设有弹簧缓冲质谱仪本体侧部的压力,第一支撑板和第二支撑板可以缓冲前后侧的冲击力,能够保证质谱仪本体不会倾倒,结构简单,便于安装,使用简单。
  • 一种同位素质谱仪
  • [发明专利]一种离心分离硼同位的方法-CN201611170055.2在审
  • 周明胜;裴根;潘建雄 - 清华大学
  • 2016-12-16 - 2017-05-10 - B01D59/20
  • 本发明属于同位分离生产技术领域,特别涉及一种离心分离硼同位的方法。包括以下步骤(1)采用三氯化硼作为分离介质,通过分馏法对其进行净化;(2)使用气体离心法进行同位分离;(3)使用气体质谱仪对离心分离产品中不同分子量的组分进行丰度分析。本发明使用三氯化硼作为分离介质,原料易获取,生产成本较低;使用气体离心法,具有能耗低、经济性好、生产规模灵活等特点;使用气体质谱仪进行丰度分析,能够提供高的丰度测量精度。
  • 一种离心分离同位素方法
  • [发明专利]同位丰度比测量方法、装置及电子设备-CN202211267674.9在审
  • 郝学元;李冀锴;应斌 - 成都安特伟业科学仪器有限公司
  • 2022-10-17 - 2023-05-16 - G01N27/62
  • 本发明提供了一种同位丰度比测量方法、装置及电子设备,应用于磁式质谱仪,第一质量和第二质量的同位离子束分别包括第一同位和第二同位;目标质量的同位离子束为第一质量或第二质量的同位离子束;当离子束轨道发生偏移时,计算第三质量的同位离子束对应的第三偏移测量电压信号与目标质量的同位离子束对应的目标偏移测量电压信号的差值,得到检测信号;基于检测信号,计算第一同位和第二同位的丰度比。该方式基于第三质量的同位离子束对应的第三偏移测量电压信号与目标质量的同位离子束对应的目标偏移测量电压信号的差值,计算第一同位和第二同位的丰度比,可以实现离子束轨道追踪及调整,从而提高测量的精确度
  • 同位素测量方法装置电子设备

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