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- [发明专利]存储器故障测试方法-CN202310642714.1在审
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钟岱山;陈斌斌;张有志
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粤芯半导体技术股份有限公司
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2023-05-31
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2023-08-15
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G11C29/56
- 本发明提供了一种存储器故障测试方法,包括:向每个地址写入反棋盘格数据;进行延时操作;从高地址向低地址依次进行读反棋盘格数据、读反棋盘格数据、写反棋盘格数据、读反棋盘格数据、写棋盘格数据、读棋盘格数据、写棋盘格数据和读棋盘格数据的操作;从高地址向低地址依次进行读棋盘格数据、写反棋盘格数据、写反棋盘格数据、读反棋盘格数据和写棋盘格数据的操作;从高地址向低地址依次进行读棋盘格数据、读棋盘格数据、写棋盘格数据、读棋盘格数据、写反棋盘格数据、读反棋盘格数据、写反棋盘格数据和读反棋盘格数据的操作;从高地址向低地址依次进行读反棋盘格数据、写棋盘格数据、写棋盘格数据、读棋盘格数据和写反棋盘格数据的操作。
- 存储器故障测试方法
- [发明专利]耗材芯片系统以及耗材容器-CN202010987095.6在审
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不公告发明人
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杭州旗捷科技有限公司
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2020-09-18
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2021-07-20
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G06F3/12
- 本申请涉及一种耗材芯片系统以及耗材容器,包括耗材芯片以及天线板,其中:所述天线板,布设有天线,用于接收连接信息以及写读指令;所述耗材芯片,用于基于所述连接信息建立所述耗材芯片与写读设备之间的无线连接,还用于基于所述写读指令进行写读操作上述耗材芯片系统以及耗材容器,通过布设有天线的天线板接收连接信息并根据连接信息建立耗材芯片和写读设备的无线连接;此外,耗材芯片通过布设有天线的天线板接收写读指令,根据写读指令进行写读操作,实现了通过无线方式对耗材芯片进行写读,即使耗材芯片已经封装,耗材已经包装,依然可以高效、低成本地对耗材芯片进行写读。
- 耗材芯片系统以及容器
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