[发明专利]发光二极管外延片及其制备方法、发光二极管外延片有效
申请号: | 202310968497.5 | 申请日: | 2023-08-03 |
公开(公告)号: | CN116682914B | 公开(公告)日: | 2023-10-10 |
发明(设计)人: | 张彩霞;印从飞;刘春杨;胡加辉;金从龙 | 申请(专利权)人: | 江西兆驰半导体有限公司 |
主分类号: | H01L33/22 | 分类号: | H01L33/22;H01L33/44;H01L33/00 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 李素兰 |
地址: | 330000 江西省南昌市南*** | 国省代码: | 江西;36 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: |
本发明公开了发光二极管外延片及其制备方法、发光二极管外延片,涉及半导体光电器件领域。发光二极管外延片包括衬底和依次设于所述衬底上的形核层、本征GaN层、N型GaN层、V型坑层、多量子阱层、电子阻挡层和P型GaN层;所述V型坑层包括依次层叠于所述N型GaN层上的缺陷阻断层和V型坑形成层;所述缺陷阻断层包括依次层叠于所述N型GaN层上的第一BN层、InN层和第二BN层;所述V型坑形成层为Ga |
||
搜索关键词: | 发光二极管 外延 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于江西兆驰半导体有限公司,未经江西兆驰半导体有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202310968497.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种橡胶耐磨性检测设备
- 下一篇:一种高压断路器动作特性检测方法及终端机