[发明专利]基于Faster-RCNN模型的元器件弱缺陷高精度检测方法在审
| 申请号： | 202310235751.0 | 申请日： | 2023-03-13 |
| 公开（公告）号： | CN116596837A | 公开（公告）日： | 2023-08-15 |
| 发明（设计）人： | 高红霞;莫宜锦;陈山娇;李冠基;杨伟朋 | 申请（专利权）人： | 华南理工大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T3/40;G06V10/40;G06V10/82;G06V10/80;G06V10/764;G06V10/766;G06N3/0464 |
| 代理公司： | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 | 代理人： | 冯炳辉 |
| 地址： | 510640 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于Faster‑RCNN模型的元器件弱缺陷高精度检测方法，包括：1)元器件图像采集；2)对原始图像进行双线性插值，得到为原图两倍大小的超尺度图；3)对原图进行特征提取，得到原图特征；对超尺度图做特征提取，得到超尺度图特征；4)对超尺度图特征进行最大值下采样，与原图特征对齐；5)将超尺度图特征与原图特征进行拼接融合；6)将融合后的特征图输入检测头，进行缺陷的定位及分类。本发明基于Faster‑RCNN模型对电子元器件缺陷检测，加强了对弱缺陷的检测能力，缓解了现有技术对元器件弱缺陷检测精度不高的问题，提高了元器件缺陷的整体检测精度。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 faster rcnn 模型 元器件 缺陷 高精度 检测 方法 | ||
【主权项】：
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