[发明专利]一种原子层沉积硫系相变薄膜的方法在审

专利信息
申请号: 202310081156.6 申请日: 2023-01-13
公开(公告)号: CN116043194A 公开(公告)日: 2023-05-02
发明(设计)人: 童浩;朱荣江;缪向水;何强 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: C23C16/455 分类号: C23C16/455;H10B63/10;C23C16/30;C23C16/02
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 汪洁丽
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种原子层沉积硫系相变薄膜的方法,其包括:步骤S1:将硫系前驱体分子A以脉冲注入的方式对衬底进行表面修饰,使所述衬底的表面饱和吸附一层成键的硫系修饰层;步骤S2:通入载气对表面修饰后的衬底进行吹扫,消除衬底表面未被吸附的多余的硫系前驱体分子A;步骤S3:采用原子层沉积法在吹扫后的衬底表面交替脉冲注入硫系前驱体分子A和硫系前驱体分子B,生长硫系相变薄膜。本发明通过在原子层沉积之前,利用单一的硫系前驱体分子进行脉冲注入以修饰衬底表面,可以高效制备得到高保型、无针孔硫系相变薄膜。
搜索关键词: 一种 原子 沉积 相变 薄膜 方法
【主权项】:
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