[发明专利]缺陷轮廓提取方法、装置、存储介质、设备及程序产品在审
| 申请号： | 202310080248.2 | 申请日： | 2023-02-08 |
| 公开（公告）号： | CN115861293A | 公开（公告）日： | 2023-03-28 |
| 发明（设计）人： | 请求不公布姓名 | 申请（专利权）人： | 成都数联云算科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T5/00;G06T7/70;G06T7/13 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 孙朝锐 |
| 地址： | 610000 四川省成都市*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本申请实施例公开了缺陷轮廓提取方法、装置、存储介质、设备及程序产品，涉及图像处理技术领域，包括：根据目标图像上缺陷的位置信息，对缺陷进行掩码处理，获得掩码图像；对掩码图像进行修复，获得修复图像；将修复图像与目标图像在像素级做差，获得缺陷轮廓信息。本申请通过定位缺陷位置，进行精确的掩码处理，在掩码存在的情况下集中关注图像上除掩码以外的区域，直接排开缺陷干扰，将掩码图像修复为对应的产品无缺陷背景图像，而后在像素级做差下，带有缺陷的目标图像在与其对应的无缺陷背景图做差下，由于不存在缺陷的区域背景是一致的，做差后可以完全排除复杂背景的干扰，凸显缺陷所在区域，可以快速提取缺陷轮廓信息。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 轮廓 提取 方法 装置 存储 介质 设备 程序 产品 | ||
【主权项】：
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