[发明专利]缺陷轮廓提取方法、装置、存储介质、设备及程序产品

权利要求书

1.一种缺陷轮廓提取方法，其特征在于，包括以下步骤：

根据目标图像上缺陷的位置信息，对所述缺陷进行掩码处理，获得掩码图像；

对所述掩码图像进行修复，获得修复图像；其中，所述修复图像为所述目标图像对应的产品无缺陷背景图像；

将所述修复图像与所述目标图像在像素级做差，获得缺陷轮廓信息。

2.根据权利要求1所述的缺陷轮廓提取方法，其特征在于，所述根据目标图像上缺陷的位置信息，对所述缺陷进行掩码处理，获得掩码图像之前，所述缺陷轮廓提取方法还包括：

根据所述目标图像上的缺陷信息，获得所述目标图像上缺陷的bbox坐标信息；

所述根据目标图像上缺陷的位置信息，对所述缺陷进行掩码处理，获得掩码图像，包括：

根据目标图像上缺陷的bbox坐标信息，对所述缺陷进行掩码处理，获得掩码图像。

3.根据权利要求2所述的缺陷轮廓提取方法，其特征在于，所述根据目标图像上缺陷的bbox坐标信息，对所述缺陷进行掩码处理，获得掩码图像，包括：

根据目标图像上缺陷的bbox坐标信息，生成掩码区域；

根据所述掩码区域对所述缺陷进行掩码处理，获得掩码图像。

4.根据权利要求1所述的缺陷轮廓提取方法，其特征在于，所述将所述修复图像与所述目标图像在像素级做差，获得缺陷轮廓信息，包括：

分别将所述修复图像与所述目标图像的对应像素点做差，获得像素差值信息；

将所述像素差值信息作为新的像素点的像素值，生成差值图像；

根据所述差值图像，获得缺陷轮廓信息。

5.根据权利要求4所述的缺陷轮廓提取方法，其特征在于，所述将所述像素差值信息作为新的像素点的像素值，生成差值图像之后，所述缺陷轮廓提取方法还包括：

对所述差值图像进行二值化处理，获得二值化差值图像；

所述根据所述差值图像，获得缺陷轮廓信息，包括：

根据所述二值化差值图像，获得缺陷轮廓信息。

6.根据权利要求4所述的缺陷轮廓提取方法，其特征在于，所述根据所述差值图像，获得缺陷轮廓信息，包括：

根据所述差值图像，获得所述缺陷覆盖区域；

提取所述缺陷覆盖区域的轮廓，获得缺陷轮廓信息。

7.根据权利要求1所述的缺陷轮廓提取方法，其特征在于，所述对所述掩码图像进行修复，获得修复图像，包括：

将所述掩码图像上的掩码去除，获得待修复图像；

基于所述待修复图像上除所述掩码以外区域的背景信息，生成修复素材；

将所述修复素材置于所述掩码所在区域，获得修复图像。

8.根据权利要求1所述的缺陷轮廓提取方法，其特征在于，所述对所述掩码图像进行修复，获得修复图像，包括：

将所述掩码图像输入已训练的图像修复模型，获得修复图像；其中，所述图像修复模型能够将图像上的掩码去除，并将所述图像修复为对应的产品无缺陷背景图像。

9.根据权利要求8所述的缺陷轮廓提取方法，其特征在于，所述将所述掩码图像输入已训练的图像修复模型，获得修复图像之前，所述缺陷轮廓提取方法还包括：

获得若干无缺陷的目标产品的背景图；

将掩码素材分别与所述背景图叠加，获得若干叠加图像；

基于若干所述叠加图像、所述背景图以及所述掩码素材，训练获得所述图像修复模型。

10.根据权利要求9所述的缺陷轮廓提取方法，其特征在于，所述获得若干无缺陷的目标产品的背景图之后，所述缺陷轮廓提取方法还包括：

对所述背景图进行数据增强，获得目标背景图；

所述将掩码素材分别与所述背景图叠加，获得若干叠加图像，包括：

将掩码素材分别与所述目标背景图叠加，获得若干叠加图像。