[发明专利]缺陷轮廓提取方法、装置、存储介质、设备及程序产品

说明书

本申请实施例公开了缺陷轮廓提取方法、装置、存储介质、设备及程序产品，涉及图像处理技术领域，包括：根据目标图像上缺陷的位置信息，对缺陷进行掩码处理，获得掩码图像；对掩码图像进行修复，获得修复图像；将修复图像与目标图像在像素级做差，获得缺陷轮廓信息。本申请通过定位缺陷位置，进行精确的掩码处理，在掩码存在的情况下集中关注图像上除掩码以外的区域，直接排开缺陷干扰，将掩码图像修复为对应的产品无缺陷背景图像，而后在像素级做差下，带有缺陷的目标图像在与其对应的无缺陷背景图做差下，由于不存在缺陷的区域背景是一致的，做差后可以完全排除复杂背景的干扰，凸显缺陷所在区域，可以快速提取缺陷轮廓信息。

技术领域

本申请涉及图像处理技术领域，具体涉及一种缺陷轮廓提取方法、装置、存储介质、设备及程序产品。

背景技术

在诸如PCB印刷电路板等精密制造的生产中，其制造工艺流程由多个段别组成，在复杂且繁琐的制造过程中容易引入各种各样的产品缺陷，面对多元化的业务场景，往往需要对缺陷做进一步后处理，比如缺陷的轮廓和背景分割，但不同的产品类型往往有着不同的线路构造与背板颜色，加之缺陷类型丰富多样，在颜色、形状、深浅上表现不一，导致传统图像处理技术难以提取缺陷轮廓。

发明内容

本申请的主要目的在于提供一种缺陷轮廓提取方法、装置、存储介质、设备及程序产品，旨在解决现有技术中针对复杂背板上的缺陷轮廓难以提取的问题。

为实现上述目的，本申请的实施例采用的技术方案如下：

第一方面，本申请实施例提供一种缺陷轮廓提取方法，包括以下步骤：

根据目标图像上缺陷的位置信息，对缺陷进行掩码处理，获得掩码图像；

对掩码图像进行修复，获得修复图像；其中，修复图像为目标图像对应的产品无缺陷背景图像；

将修复图像与目标图像在像素级做差，获得缺陷轮廓信息。

通过定位缺陷位置，对缺陷进行精确的掩码处理，在掩码存在的情况下可以更集中地关注图像上除掩码以外的区域，直接排开了缺陷的干扰，将掩码图像修复为对应的产品无缺陷背景图像，解决了难以获得实际状态下真实的无缺陷图像的问题，而后在像素级做差的情况下，带有缺陷的目标图像在与其对应的无缺陷背景图做差下，由于不存在缺陷的区域背景是一致的，做差后可以完全排除复杂背景的干扰，做差后凸显缺陷所在区域，即可以快速提取缺陷轮廓信息。

在第一方面的一种可能实现方式中，根据目标图像上缺陷的位置信息，对缺陷进行掩码处理，获得掩码图像之前，缺陷轮廓提取方法还包括：

根据目标图像上的缺陷信息，获得目标图像上缺陷的bbox坐标信息；

根据目标图像上缺陷的位置信息，对缺陷进行掩码处理，获得掩码图像，包括：

根据目标图像上缺陷的bbox坐标信息，对缺陷进行掩码处理，获得掩码图像。

bbox坐标即缺陷位置区域框坐标，构造一个矩形框来覆盖缺陷位置，矩形框比较方便定位，其位置与大小都可以根据顶点坐标获得，由于背板的影响，具体缺陷位置暂时无法提取，也就是缺陷的轮廓提取困难，在利用bbox方式进行位置确定，兼顾了查找速度与算法难度，能够有效提升处理速度，并且缺陷位置矩形框还能够为掩码的设置提供位置依据，掩码处理也能够更准确、快捷。

在第一方面的一种可能实现方式中，根据目标图像上缺陷的bbox坐标信息，对缺陷进行掩码处理，获得掩码图像，包括：

根据目标图像上缺陷的bbox坐标信息，生成掩码区域；

根据掩码区域对缺陷进行掩码处理，获得掩码图像。

bbox为缺陷位置矩形框，那么对应生成相同尺寸的掩码区域，以实现精确的覆盖，避免了在后续还原图像时造成缺陷遗漏，缺陷位置矩形框依据四个方向缺陷的极限位置划定，尽可能降低掩码的大小，依据尺寸相匹配的掩码区域进行掩码处理，则能够降低处理难度，使得修复还原的难度也降低，缺陷轮廓的提取更为效率。