[发明专利]导通测试模组的制作方法及导通测试模组在审

专利信息
申请号: 202211627273.X 申请日: 2022-12-16
公开(公告)号: CN115980415A 公开(公告)日: 2023-04-18
发明(设计)人: 韦建华 申请(专利权)人: 欣强电子(清远)有限公司
主分类号: G01R3/00 分类号: G01R3/00;C25D5/02;G01R31/28
代理公司: 广州高炬知识产权代理有限公司 44376 代理人: 王昌金
地址: 511500 广东省清远市高*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及一种导通测试模组的制作方法及导通测试模组,在制作测试模组的基础板层后,在基础板层上确定加工区域,并在加工区域制作凸起,最后在完成制作凸起后,完成后续的线路制作,获得导通测试模组。其中,凸起用于对应固定待测PCB板的焊盘。基于此,通过凸起固定待测PCB板的焊盘,有利于适配各类PCB板的测试,避免断触等结构问题,提高电气导通测试的便利性和准确性。
搜索关键词: 测试 模组 制作方法
【主权项】:
暂无信息
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