[发明专利]半导体器件及其制作方法在审

专利信息
申请号: 202211455576.8 申请日: 2022-11-21
公开(公告)号: CN115763478A 公开(公告)日: 2023-03-07
发明(设计)人: 宋思德;刘杰;宋宏光;周俊 申请(专利权)人: 武汉新芯集成电路制造有限公司
主分类号: H01L27/088 分类号: H01L27/088;H01L29/78;H01L21/8234
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 郑星
地址: 430205 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明提供一种半导体器件及其制作方法,包括:衬底,衬底包括有源区;有源区用于形成存储单元和LDMOS;有源区位于隔离结构的两侧分别形成有第一导电类型阱区和第一导电类型漂移区;第一导电类型阱区的上表面形成有相邻的隧穿氧化层和场氧化层;栅极结构包括相连接的栅极横向部和栅极纵向部。半导体器件将存储单元和LDMOS器件集成在同一衬底上,形成可存储的高压功率器件。存储单元的浮栅和LDMOS的槽栅连接为一体且为单层栅极结构,含有隧穿氧化层结构,通过带带隧穿的方式编程,通过存储单元的浮栅与LDMOS的槽栅相连从而控制LDMOS的开/关状态。
搜索关键词: 半导体器件 及其 制作方法
【主权项】:
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