[发明专利]异常半导体的分检方法、分检机构、电子设备及存储介质有效
| 申请号： | 202211326917.1 | 申请日： | 2022-10-27 |
| 公开（公告）号： | CN115457032B | 公开（公告）日： | 2023-03-24 |
| 发明（设计）人： | 请求不公布姓名 | 申请（专利权）人： | 苏州高视半导体技术有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/60;H01L21/66;H01L21/67 |
| 代理公司： | 北京维昊知识产权代理事务所(普通合伙) 11804 | 代理人： | 李波 |
| 地址： | 215153 江苏省苏州市高新区*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本披露公开了一种异常半导体的分检方法、分检机构、电子设备及存储介质。该方法包括：获取检测图像；检测图像中包含有多个待测半导体；基于检测图像在多个待测半导体中确定异常半导体；根据异常半导体在第一坐标系下的图像坐标换算异常半导体在第二坐标系下的机械坐标；第一坐标系为检测图像的图像坐标系；第二坐标系为检测图像对应的分检机构的定位坐标系；控制分检机构中的挑拣装置移动至异常半导体的机械坐标处，以剔除异常半导体。本披露公开的技术方案能够实现减少半导体分检过程中的人工干预程度，通过机器自动完成对多个半导体的异常检测以及完成对异常半导体的剔除工作。 | ||
| 搜索关键词： | 异常 半导体 方法 机构 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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