[发明专利]一种面向图形芯片功耗测试的方法及装置有效
| 申请号： | 202211321713.9 | 申请日： | 2022-10-27 |
| 公开（公告）号： | CN115391124B | 公开（公告）日： | 2023-03-21 |
| 发明（设计）人： | 洪焱;贺秋丽 | 申请（专利权）人： | 瀚博半导体(上海)有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F3/06 |
| 代理公司： | 北京市君合律师事务所 11517 | 代理人： | 王再芊;毕长生 |
| 地址： | 201300 上海市浦东新区自由贸*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种面向图形芯片功耗测试的方法及装置，该方法包括：初始化图形处理器芯片的时钟、帧资源和固件以开始执行；配置图形内核的页表寄存器并使图形内核执行该测试帧；判断测试帧的执行次数是否满足预定次数，当测试帧的执行次数满足预定次数时，结束执行，当测试帧的执行次数不满足预定次数时，重置存放在图形处理器芯片存储单元中的最小数据集，该最小数据集包括环形缓冲区指针与Fence，然后返回测试，直至测试帧的执行次数达到预定次数。本发明所提供的技术方案用于对芯片进行批量筛选，以筛选出符合功耗要求的芯片。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 面向 图形 芯片 功耗 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
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