[发明专利]一种面向图形芯片功耗测试的方法及装置

权利要求书

1.一种面向图形芯片功耗测试的方法，用于测试机台对图形处理器芯片进行功耗测试，其特征在于，所述方法包括：

初始化步骤，所述测试机台将包括测试帧的测试资源下载至所述图形处理器芯片中；

配置步骤，所述图形处理器芯片配置图形内核的页表寄存器；

测试步骤，所述图形内核执行所述测试帧；

判断步骤，判断所述测试帧的执行次数是否达到预定次数，当所述测试帧的执行次数达到预定次数时，结束执行；当所述测试帧的执行次数未达到预定次数时，重置存放在所述图形处理器芯片的存储单元中的最小数据集，然后重新依次执行所述测试步骤和所述判断步骤；

其中，所述最小数据集为从所述测试帧的仿真波形中的存储单元的地址信号中收集的被既读又写的资源项，所述最小数据集包括环形命令缓冲区指针以及Fence。

2.根据权利要求1所述的面向图形芯片功耗测试的方法，其特征在于，所述图形处理器芯片的存储单元为片上静态随机存取存储器，所述图形处理器芯片上还设置有片上微处理器，所述片上微处理器的功能由代码固件进行实现。

3.根据权利要求2所述的面向图形芯片功耗测试的方法，其特征在于，所述初始化步骤中，所述测试机台初始化所述图形处理器芯片的时钟并将所述测试资源下载至所述图形处理器芯片的片上静态随机存取存储器中，所述测试资源包括所述测试帧与所述代码固件，然后所述测试机台对所述片上微处理器解除复位以使得所述片上微处理器开始执行。

4.根据权利要求2所述的面向图形芯片功耗测试的方法，其特征在于，所述图形处理器芯片的片上微处理器对所述图形内核的页表寄存器进行配置。

5.根据权利要求1所述的面向图形芯片功耗测试的方法，其特征在于，所述测试帧的执行次数的预定次数为100次，以使得测试总时长的持续范围为2~10ms。

6.根据权利要求2所述的面向图形芯片功耗测试的方法，其特征在于，所述图形处理器芯片的片上微处理器重置所述最小数据集。

7.根据权利要求1所述的面向图形芯片功耗测试的方法，其特征在于，所述最小数据集由预处理步骤确定，所述预处理步骤包括获取步骤、抽取步骤、统计步骤以及收集步骤。

8.根据权利要求7所述的面向图形芯片功耗测试的方法，其特征在于，在所述获取步骤中，获取所述测试帧的仿真波形；在所述抽取步骤中，抽取仿真波形中存储单元的地址信号；在所述统计步骤中，统计地址信号范围内的每一页的资源项的读写记录；以及在所述收集步骤中，从读写记录中收集被既读又写的资源项。

9.根据权利要求8所述的面向图形芯片功耗测试的方法，其特征在于，所述被既读又写的资源项即构成所述最小数据集。

10.一种面向图形芯片功耗测试的装置，用于测试机台对图形处理器芯片进行功耗测试，其特征在于，所述装置包括：

初始化模块，被配置用于使得所述测试机台将包括测试帧的测试资源下载至所述图形处理器芯片中；

配置模块，被配置用于使得所述图形处理器芯片对图形内核的页表寄存器进行配置；

测试模块，被配置用于使得所述图形内核执行所述测试帧；

判断模块，被配置用于判断所述测试帧的执行次数是否达到预定次数，当所述测试帧的执行次数达到预定次数时，结束执行；当所述测试帧的执行次数未达到预定次数时，重置存放在所述图形处理器芯片的存储单元中的最小数据集，然后重新依次执行所述测试模块和所述判断模块；

其中，所述最小数据集为从所述测试帧的仿真波形中的存储单元的地址信号中收集的被既读又写的资源项，所述最小数据集包括环形命令缓冲区指针以及Fence。

11.根据权利要求10所述的面向图形芯片功耗测试的装置，其特征在于，所述图形处理器芯片的存储单元被设计为片上静态随机存取存储器，所述图形处理器芯片上还设计有片上微处理器，所述片上微处理器的功能由代码固件进行实现。