[发明专利]一种快闪存储器及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202211049785.2 申请日: 2022-08-30
公开(公告)号: CN115360196A 公开(公告)日: 2022-11-18
发明(设计)人: 汤志林;付永琴;王卉;曹子贵 申请(专利权)人: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
主分类号: H01L27/11521 分类号: H01L27/11521;H01L27/11548;H01L21/762
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 张亚静
地址: 201203 上海市浦东新区中*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种快闪存储器及其制备方法,包括:衬底,所述衬底内具有若干沿第一方向延伸且沿第二方向分布的浅沟槽隔离结构;掺杂区,位于每个所述浅沟槽隔离结构两侧的所述衬底内,所述掺杂区的导电类型与所述衬底的导电类型相同,且所述掺杂区的离子浓度大于所述衬底的离子浓度;若干栅极结构,沿所述第二方向延伸并沿所述第一方向分布在所述衬底上。利用所述掺杂区在所述衬底内形成一个较大的势垒,阻挡所述浅沟槽隔离结构边缘缺口处寄生MOS管引起的漏电流进入所述衬底内,进而避免漏电流引起的快闪存储器编程串扰及失效。
搜索关键词: 一种 闪存 及其 制备 方法
【主权项】:
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