[发明专利]一种粘连谷粒的凹点检测与分割算法

摘要

本发明公开了一种粘连谷粒的凹点检测与分割算法，包括以下步骤：在正常光照下，采集彩色谷粒图像，并转换为二值谷粒图像；统计二值谷粒图像中各谷粒连通区域面积，并删除面积小于100的连通区域；将最小谷粒连通区域的面积作为单个谷粒的面积S0，再根据S0计算单个谷粒的周长；对谷粒连通区域上的曲线段采用椭圆拟合，利用拟合椭圆分割出第I类谷粒连通区域ΩI，对其余的谷粒连通区域，进一步进行轮廓提取和凹点检测，直到将所有的第I类谷粒连通区域ΩI从彩色谷粒图像中分割出来。本发明的一种粘连谷粒的凹点检测与分割算法，无需专业的摄像环境和设备，无需人工干预，操作简便，成本低，分割精度高。