[发明专利]一种半导体自动化测试系统、方法及电子设备在审
| 申请号： | 202210700824.4 | 申请日： | 2022-06-21 |
| 公开（公告）号： | CN114779039A | 公开（公告）日： | 2022-07-22 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 成都爱旗科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京知迪知识产权代理有限公司 11628 | 代理人： | 王胜利 |
| 地址： | 610094 四川省成都市中国（四川）自*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开一种半导体自动化测试系统、方法及电子设备，涉及自动化测试领域。系统包括：上位机软件单元、以及依次和所述上位机软件单元连接的顶针模块单元、参数控制处理单元、中央控制单元和信号相关设备；其中，所述信号相关设备和所述顶针模块单元连接；所述顶针模块单元与待测半导体连接；可以在保证测试准确度的同时，大幅提升测试效率，实现自动化及无人值守，大大缩减了实验验证周期，为实现芯片快速商用成功助力，提高了测试的稳定性和可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 自动化 测试 系统 方法 电子设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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