[发明专利]芯片封装结构及封装方法在审

专利信息
申请号: 202210373729.8 申请日: 2022-04-11
公开(公告)号: CN116936488A 公开(公告)日: 2023-10-24
发明(设计)人: 章晓婷;汤佳杰;葉冠宏;徐斌;廖俊 申请(专利权)人: 华为技术有限公司
主分类号: H01L23/31 分类号: H01L23/31;H01L21/60;H01L21/56
代理公司: 北京亿腾知识产权代理事务所(普通合伙) 11309 代理人: 刘辰雷;陈霁
地址: 518129 广东*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 本申请涉及半导体技术领域,具体涉及芯片封装结构及封装方法。该芯片封装结构包括:芯片,具有相对的上表面和下表面,其中,上表面设置有至少一个第一焊点;覆盖芯片的上表面、下表面以及侧面的塑封层;其中,第一焊点的上端裸露在塑封层的上表面;第一焊点的上端为第一焊点远离芯片的一端;位于第一焊点上且与第一焊点接触的重新布线层,其中,该接触使得第一焊点和重新布线层形成电连接;以及位于重新布线层上且与重新布线层电连接的至少一个第二焊点。该芯片封装结构可以对其中的芯片形成有效保护,提高芯片的可靠性、性能和寿命。
搜索关键词: 芯片 封装 结构 方法
【主权项】:
暂无信息
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