[发明专利]制备InGaN量子点的方法、InGaN量子点、外延结构及光电器件在审

专利信息
申请号: 202210254828.4 申请日: 2022-03-15
公开(公告)号: CN114628554A 公开(公告)日: 2022-06-14
发明(设计)人: 陈振宇;赵德刚;梁锋;刘宗顺;陈平;杨静 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;H01L33/06;H01L33/32;H01S5/34;H01S5/343;B82Y30/00;B82Y40/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 周天宇
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本公开提供了一种制备InGaN量子点的方法、InGaN量子点、外延结构及光电器件。方法包括:第一温度下,在衬底上生长GaN缓冲层;将第一温度升至第二温度,并在第二温度下,在GaN缓冲层上生长非掺杂GaN层;将第二温度降低至设定温度,在非掺杂GaN层上生长InGaN量子阱层;在设定温度下,通入NH3,持续生长反应至第一时间,在InGaN量子阱层上获得InGaN量子点,其中,通入NH3流量为1~10slm。本公开通过InGaN层材料生长过程的生长特性直接获得InGaN量子点,具有步骤简单,易操作的优势,显著降低了获得InGaN量子点的工艺复杂度。通过NH3流量改变获得不同直径不同密度的InGaN量子点,进一步优化了InGaN量子点的发光性能,包括发光波长以及发光强度,推进了InGaN量子点在InGaN基光电器件中的应用。
搜索关键词: 制备 ingan 量子 方法 外延 结构 光电 器件
【主权项】:
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