[发明专利]制备InGaN量子点的方法、InGaN量子点、外延结构及光电器件在审
申请号: | 202210254828.4 | 申请日: | 2022-03-15 |
公开(公告)号: | CN114628554A | 公开(公告)日: | 2022-06-14 |
发明(设计)人: | 陈振宇;赵德刚;梁锋;刘宗顺;陈平;杨静 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;H01L33/06;H01L33/32;H01S5/34;H01S5/343;B82Y30/00;B82Y40/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 周天宇 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 制备 ingan 量子 方法 外延 结构 光电 器件 | ||
本公开提供了一种制备InGaN量子点的方法、InGaN量子点、外延结构及光电器件。方法包括:第一温度下,在衬底上生长GaN缓冲层;将第一温度升至第二温度,并在第二温度下,在GaN缓冲层上生长非掺杂GaN层;将第二温度降低至设定温度,在非掺杂GaN层上生长InGaN量子阱层;在设定温度下,通入NH3,持续生长反应至第一时间,在InGaN量子阱层上获得InGaN量子点,其中,通入NH3流量为1~10slm。本公开通过InGaN层材料生长过程的生长特性直接获得InGaN量子点,具有步骤简单,易操作的优势,显著降低了获得InGaN量子点的工艺复杂度。通过NH3流量改变获得不同直径不同密度的InGaN量子点,进一步优化了InGaN量子点的发光性能,包括发光波长以及发光强度,推进了InGaN量子点在InGaN基光电器件中的应用。
技术领域
本公开涉及半导体技术领域,尤其涉及一种制备InGaN量子点的方法、InGaN量子点、外延结构及光电器件。
背景技术
GaN基半导体光电器件是一种重要的光电器件,在紫外波段、可见光波段都有非常广泛的应用。其中蓝绿光发光二极管(LED),激光二极管(LD)在半导体照明、激光显示等方面有相当广阔的应用前景,而传统蓝绿光发光二极管以及激光二极管通常使用InGaN/GaN量子阱作为有源区,在极性面上生长的InGaN/GaN量子阱存在较为严重的量子限制斯塔克效应,使得电子和空穴的波函数空间分离,降低了电子和空穴的辐射复合效率,不利于量子阱发光。尤其是在绿光波段,需要更高In组分的InGaN/GaN量子阱,获得高质量的量子阱是制备量子阱激光二极管的必要条件,而高In组分高质量的InGaN/GaN量子阱目前仍然不易制备。
目前制备InGaN量子点的方法,通常制备过程复杂,难以控制及操作,且需要精密的工艺,制备成本较高。因此有必要提出一种新的制备方法,可以方便快捷且低成本地制备获得高质量的InGaN量子点,从而获得高质量的InGaN量子点外延结构及光电器件。
发明内容
针对上述问题,本公开提出一种制备InGaN量子点的方法、InGaN量子点、外延结构及光电器件。
本公开提出的制备InGaN量子点的方法包括:第一温度下,在衬底上生长GaN缓冲层;将第一温度升至第二温度,并在第二温度下,在GaN缓冲层上生长非掺杂GaN层;将第二温度降低至设定温度,在非掺杂GaN层上生长InGaN量子阱层;在设定温度下,通入NH3,持续生长反应至第一时间,在InGaN量子阱层上获得InGaN量子点,其中,通入NH3流量为1~10slm。
进一步地,本公开提出的制备InGaN量子点的方法,设定温度为600~700℃。
进一步地,本公开提出的制备InGaN量子点的方法,InGaN量子阱层的厚度为1~5nm。
进一步地,本公开提出的制备InGaN量子点的方法,InGaN量子阱层的材料为InxGa1-xN,其中In组分x为25%~50%连续可调。
进一步地,本公开提出的制备InGaN量子点的方法,包括:制备包含第一组分含量的InGaN量子阱层达到第一厚度,以使InGaN量子阱层不发生弛豫,其中,第一组分含量为InGaN量子阱层的In组分含量,第一厚度为InGaN量子阱层的厚度。
进一步地,本公开提出的制备InGaN量子点的方法,第一厚度为2~3nm。
进一步地,本公开提出的制备InGaN量子点的方法,衬底材料为蓝宝石或氮化镓。
本公开的另一方面提出一种InGaN量子点,InGaN量子点由前述的制备InGaN量子点的方法制备获得。
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