[发明专利]高阻薄膜制备方法及高阻薄膜在审

专利信息
申请号: 202210194534.7 申请日: 2022-03-01
公开(公告)号: CN114686846A 公开(公告)日: 2022-07-01
发明(设计)人: 胡景鹏 申请(专利权)人: 东莞市中科原子精密制造科技有限公司
主分类号: C23C16/40 分类号: C23C16/40;C23C16/455;C23C16/56
代理公司: 北京尚伦律师事务所 11477 代理人: 赵昕
地址: 523003 广东省东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本公开是高阻薄膜制备方法及高阻薄膜。该方法包括:将预处理后的微通道板放置于原子层沉积设备进行初处理;在初处理后的所述微通道板上进行导电层沉积;在所述导电层上制备复合叠层结构,所述复合叠层结构包括i个循环结构,每个所述循环结构包括n个循环的高阻相和m个循环的低阻相;在所述复合叠层结构上沉积二次电子发射层;对沉积了所述二次电子发射层的所述微通道板进行结晶处理。其中,通过ALD制备出特定比例的高阻系材料与低阻系材料的复合材料,通过调控复合材料中导电相的循环比例,从而可以获得电阻可控的MCP用高阻薄膜。
搜索关键词: 薄膜 制备 方法
【主权项】:
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