[发明专利]半导体存储装置及其操作方法以及包括其的存储系统在审

专利信息
申请号: 202210080706.8 申请日: 2022-01-24
公开(公告)号: CN115579045A 公开(公告)日: 2023-01-06
发明(设计)人: 李光训;金起业;金生焕 申请(专利权)人: 爱思开海力士有限公司
主分类号: G11C29/42 分类号: G11C29/42
代理公司: 北京弘权知识产权代理有限公司 11363 代理人: 许伟群;李少丹
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本公开涉及半导体存储装置及其操作方法以及包括其的存储系统。半导体存储装置可以包括:存储单元阵列;错误检查和纠正电路,被配置成:从响应于读取命令而从存储单元阵列读取的数据中检测错误,纠正所检测的错误,以及每当错误被纠正时输出错误纠正信号;以及错误标志生成器,被配置成:当在监测时段期间生成错误纠正信号的次数达到阈值时进入标志输出模式,以及在标志输出模式中输出错误纠正信号作为错误标志。
搜索关键词: 半导体 存储 装置 及其 操作方法 以及 包括 存储系统
【主权项】:
暂无信息
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