[实用新型]MCU供电电路、FT测试设备和FT测试系统有效
| 申请号： | 202122641198.X | 申请日： | 2021-10-29 |
| 公开（公告）号： | CN216434294U | 公开（公告）日： | 2022-05-03 |
| 发明（设计）人： | 张旺宝;葛俊;郭承省;温禄泉;曹竟元;章小平;曾豪 | 申请（专利权）人： | 珠海极海半导体有限公司;成都极海科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3167 | 分类号： | G01R31/3167;H02M1/00 |
| 代理公司： | 北京汇思诚业知识产权代理有限公司 11444 | 代理人： | 罗艳 |
| 地址： | 519060 广东省珠海市横琴新*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请实施例提出了一种MCU供电电路、FT测试设备和FT测试系统，该MCU供电电路包括：电源以及供电选择电路；电源包括第一连接端、第二连接端，供电选择电路包括第三连接端以及多个供电选择节点；第一连接端，用于连接MCU的第一引脚；多个供电选择节点中的任一个供电选择节点，用于作为被选端与第二连接端连接，以接入电源提供的供电电压；第三连接端，用于连接MCU的第二引脚；其中，第一引脚和第二引脚中的其中一个为MCU中的数字电路的供电引脚，另一个为MCU中的模拟电路的供电引脚；MCU供电电路用于通过电源和供电选择电路，对MCU中的模拟电路和数字电路进行分时序上电。以此可以满足FT测试场景下对于被测对象的多种上电需求。 | ||
| 搜索关键词： | mcu 供电 电路 ft 测试 设备 系统 | ||
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- 一种高速数模转换电路单粒子瞬态效应评估方法及系统，(1)为待测高速数模电路配置码型，待测高速数模电路按照上述码型输出模拟信号；(2)采集上述模拟信号并转换成数字信号，通过上述数字信号判别测高速数模电路处于正常工作状态时，转步骤(3)；否则，从步骤(1)重新执行，直至工作状态正常；(3)对待测高速数模电路进行重离子试验，重新采集待测高速数模电路输出的模拟信号并进行模数转换，将转换得到的数字信号与步骤(1)中的码型进行比对，当二者的差值超出设定的阈值，则认为待测高速数模电路发生了单粒子瞬态效应；(4)在重离子试验期间，对待测高速数模电路的单粒子瞬态效应进行错误数统计；(5)计算待测高速数模电路在该重离子下的错误界面σT，利用σT完成电路单粒子瞬态效应的评估。
- 一种适用于电子设备数模电路嵌入式测试系统-201811602391.9
- 靳为东;周靖宇;唐建立;陈长乐;董琦 - 中国电子科技集团公司第四十一研究所
- 2018-12-26 - 2019-04-02 - G01R31/3167
- 本发明公开了一种适用于电子设备数模电路嵌入式测试系统，包括：模拟功能电路单元和数字功能电路单元；所述模拟功能电路单元对电子设备预留测试点进行模拟电路的模拟信号采集，数字功能电路单元通过激励测试向量完成对带边界扫描模块的数字电路的边界扫描测试，最终采用基于标准芯片封装技术对上述的适用于电子设备数模电路嵌入式测试系统进行芯片封装而成。本发明有益效果：采用标准的数模电路BIT设计和标准芯片封装技术代替传统的使用分离元器件搭建BIT功能电路进行电子设备数模电路的嵌入式测试的方式，可以较好地实现测试资源的易于隔离和可控性。
- 一种测试模式进入方法及系统-201910060796.2
- 蒋松鹰;姚炜;周佳宁;杜黎明;孙洪军 - 上海艾为电子技术股份有限公司
- 2019-01-22 - 2019-03-19 - G01R31/3167
- 本申请公开了一种测试模式进入方法及系统，其中，所述测试模式进入方法设定了两个测试模式的进入条件，即在模拟单元接收的第一电压和第二电压满足第一预设条件，且所述数字单元接收到预设特征向量时，才使芯片进入测试模式，避免了芯片在正常工作过程中被误触发进入测试模式的情况出现，提高了芯片的工作稳定性。这是因为在芯片正常工作过程中，第一电压的正常取值范围是高于第二电压的正常取值范围的，不可能出现满足第一预设条件的情况；并且即使在第一电压和第二电压满足第一预设条件的情况下，还需要满足数字单元接收到预设特征向量才会使芯片进入测试模式，最大程度上杜绝了芯片在正常工作过程中被误触发的情况。
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