[实用新型]半导体芯片测试插座有效
| 申请号： | 202122605850.2 | 申请日： | 2021-10-28 |
| 公开（公告）号： | CN216209321U | 公开（公告）日： | 2022-04-05 |
| 发明（设计）人： | 游晨 | 申请（专利权）人： | 江阴市诺普得科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京市领专知识产权代理有限公司 11590 | 代理人： | 陈烯贤 |
| 地址： | 214400 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种半导体芯片测试插座，包括基板、母体和盖板，所述基板四边位置均匀开设有若干个第一穿孔，所述母体四边位置均固定安装设置有延伸板，所述延伸板中心位置开设有第二穿孔，所述盖板四边位置均匀开设有若干个第三穿孔，所述第一穿孔、第二穿孔与第三穿孔外侧端位置均设置有延伸槽，所述第一穿孔内部位置活动穿插设置有固定柱。本实用新型固定柱穿过第一穿孔、第二穿孔和第三穿孔，同时挤压块穿过延伸槽，移动至盖板上端位置，之后转动活动环，使得延伸槽与挤压块错位，然后转动挤压环，使得挤压环向下挤压活动环，从而挤压盖板，使得基板、母体和盖板被挤压固定，无需通过弹性片进行卡接，有效延长了装置的使用寿命。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 芯片 测试 插座 | ||
【主权项】：
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