[实用新型]转塔式半导体分立器件测试设备

摘要

本实用新型公开一种转塔式半导体分立器件测试设备，基座上有位于同一圆周轨迹等距离的多个测试站，基座上方有可旋转主塔，主塔下方有与测试站距离匹配的多个吸嘴，被测试器件输送轨道出口与测试站之间还有方向校正座，基座还有光纤固定支座，光纤固定支座上有光纤传感器的光纤对射光路，该光纤对射光路对准吸嘴上被测试器件的运行轨迹，吸嘴上的被测试器件通过光纤对射光路时阻挡光纤对射光路，光纤传感器电信号接入测试设备控制系统。可以确保测试系统每一次计数都有产品输入，并使输入产品数量之和等于良品和不良品计数之和。