[实用新型]一种用于半导体芯片盖膜后的字符检测光源有效
申请号: | 202121498381.2 | 申请日: | 2021-07-02 |
公开(公告)号: | CN215812356U | 公开(公告)日: | 2022-02-11 |
发明(设计)人: | 张祥明;刘圣祥;万求 | 申请(专利权)人: | 合肥图迅电子科技有限公司 |
主分类号: | G01N21/01 | 分类号: | G01N21/01;G01N21/956 |
代理公司: | 北京知联天下知识产权代理事务所(普通合伙) 11594 | 代理人: | 张陆军;张迎新 |
地址: | 230031 安徽省合肥市高新*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本实用新型提供了一种用于半导体芯片盖膜后的字符检测光源,所述检测光源包括有第一发光组件、光路改变组件以及第二发光组件;所述第一发光组件,用于对芯片进行照明;所述光路改变组件,用于改变经过照明后,芯片的成像光路;所述第二发光组件,用于对芯片进行光照定位。本实用新型便于对字符显示效果不好芯片进行字符的辅助检测。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 半导体 芯片 盖膜后 字符 检测 光源 | ||
【主权项】:
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