[实用新型]一种用于进行半导体工艺的反应腔室有效

专利信息
申请号: 202120725243.7 申请日: 2021-04-09
公开(公告)号: CN214753696U 公开(公告)日: 2021-11-16
发明(设计)人: 郭浩;李冬冬 申请(专利权)人: 北京北方华创微电子装备有限公司
主分类号: H01L21/687 分类号: H01L21/687;C23C14/50
代理公司: 北京思创毕升专利事务所 11218 代理人: 孙向民;廉莉莉
地址: 100176 北京市大*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种用于进行半导体工艺的反应腔室,包括环绕反应腔室内壁设置的下遮蔽件、用于承载待加工晶圆且能够升降的承载装置和用于在进行半导体工艺时将晶圆固定在承载装置上的机械压环,机械压环包括压环内环和压环外环;压环外环的外周边缘环绕设置于下遮蔽件上;压环内环包括内环主体和设于内环主体的外周的搭接部,搭接部搭接于压环外环的内周边缘的上表面;承载装置能够上升以将压环内环顶起,带动搭接部脱离压环外环,以使压环内环压在晶圆的边缘。本实用新型中,压环内环搭接于压环外环并能够被承载装置上升顶起而脱离压环外环,从而在压住晶圆防止其工艺过程中发成位移的同时,减少直接作用于晶圆上的重量,使晶圆被压碎的风险大大降低。
搜索关键词: 一种 用于 进行 半导体 工艺 反应
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