[发明专利]一种提高凹型沟槽结构二氧化硅蚀刻均匀性的蚀刻液有效

专利信息
申请号: 202111501522.6 申请日: 2021-12-09
公开(公告)号: CN114369460B 公开(公告)日: 2023-07-11
发明(设计)人: 张庭;贺兆波;李金航;李鑫;尹印;万杨阳;武昊冉 申请(专利权)人: 湖北兴福电子材料股份有限公司
主分类号: C09K13/08 分类号: C09K13/08;H01L21/311
代理公司: 宜昌市三峡专利事务所 42103 代理人: 成钢
地址: 443007 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种提高凹型沟槽结构二氧化硅蚀刻均匀性的蚀刻液,主要成分包括氢氟酸、氟化铵、抑制剂、非离子型表面活性剂和超纯水。本发明的蚀刻液中通过加入抑制剂,提高蚀刻液的粘度,增加传质阻力,降低二氧化硅的蚀刻速率;非离子型表面活性剂则用于降低蚀刻液表面张力,提高浸润性,减小凹型沟槽结构上、中、下层二氧化硅蚀刻速率的差异。本发明所述的蚀刻液能够使凹型沟槽结构的上、中、下层蚀刻速率差异降低,保持上、中、下层的二氧化硅蚀刻速率基本一致。
搜索关键词: 一种 提高 沟槽 结构 二氧化硅 蚀刻 均匀
【主权项】:
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