[发明专利]基于集成学习的MEMS传感器缺陷的检测方法、装置及设备在审
| 申请号： | 202111428291.0 | 申请日： | 2021-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN113850803A | 公开（公告）日： | 2021-12-28 |
| 发明（设计）人： | 王小平;曹万;熊波;梁世豪;洪鹏 | 申请（专利权）人： | 武汉飞恩微电子有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T5/10;G06K9/62 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区高新大*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于集成学习的MEMS传感器缺陷的检测方法、装置及设备，该方法包括：接收预置的MEMS传感器缺陷的检测请求；获取所述MEMS传感器的缺陷图像；对所述缺陷图像进行图像分解，得到所述缺陷图像的分解图；将所述分解图输入至预置的集成分类器中，得到所述MEMS传感器的缺陷类别。本发明基于计算机视觉缺陷检测技术领域，在对MEMS传感器缺陷进行检测的过程中，通过对MEMS传感器的缺陷图像进行分解并输入至集成分类器中进行分类识别，以完成对MEMS传感器缺陷的检测，从而有效提升缺陷分类的准确率。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 集成 学习 mems 传感器 缺陷 检测 方法 装置 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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