[发明专利]一种三维半导体结构的平坦化处理方法在审

专利信息
申请号: 202111311133.7 申请日: 2021-11-05
公开(公告)号: CN114141775A 公开(公告)日: 2022-03-04
发明(设计)人: 张坤 申请(专利权)人: 长江存储科技有限责任公司
主分类号: H01L27/115 分类号: H01L27/115;H01L27/11556;H01L27/11524;H01L27/11582;H01L27/1157
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 熊永强
地址: 430074 湖北省武汉*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 本申请提供一种三维半导体结构的平坦化处理方法,包括:提供三维半导体结构,包括:衬底,衬底上定义有至少一个台阶区与至少一个核心区;至少一个存储器堆叠结构,包括位于第一子台阶区的台阶结构及位于核心区的叠层结构;形成填充层,填充层在核心区的部分高于在台阶区的部分;在填充层上涂覆保护层;刻蚀保护层在核心区的部分,以露出填充层在核心区的部分的顶部;刻蚀填充层;去除保护层。本申请提供的三维半导体结构的平坦化处理方法,通过在填充层上涂覆保护层,刻蚀去除保护层在核心区的部分,再刻蚀填充层在核心区的部分,使得填充层在核心区的部分与填充层在台阶区的部分之间的高度差减小,有利于后续的填充层的平坦化处理的进行。
搜索关键词: 一种 三维 半导体 结构 平坦 处理 方法
【主权项】:
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