[发明专利]一种闪存open block特性的测试方法在审
| 申请号： | 202111268294.2 | 申请日： | 2021-10-29 |
| 公开（公告）号： | CN113963741A | 公开（公告）日： | 2022-01-21 |
| 发明（设计）人： | 刘凯;王璞 | 申请（专利权）人： | 山东华芯半导体有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/42 | 分类号： | G11C29/42;G11C29/12;G11C29/44 |
| 代理公司： | 济南泉城专利商标事务所 37218 | 代理人： | 赵玉凤 |
| 地址： | 250101 山东省济南市高新*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明公开一种闪存open block特性的测试方法，属于闪存测试领域，本方法分阶段向block中写入数据，直至写满整个block，这样中间的每个阶段都是open block。每个阶段选取一组对照的block写满数据，通过对比数据的错误位数，得到每个阶段open block与close block的特性关系，根据这些特性可以进行对应的处理。本方法可以全面、快速的得到open block在使用过程中存在的前后数据稳定性不一致的特性。通过本方法得到的数据结果可以很容易的得出open block使用的间隔时间、open分组等信息，根据这些信息可以使处理open block变得容易。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 闪存 open block 特性 测试 方法 | ||
【主权项】：
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