[发明专利]一种闪存open block特性的测试方法

权利要求书

1.一种闪存open block特性的测试方法，其特征在于：本方法分阶段向block中写入数据，直至写满整个block，这样中间的每个阶段都是open block，每个阶段选取一组对照的block写满数据，通过对比数据的错误位数，得到每个阶段open block与close block的特性关系。

2.根据权利要求1所述的闪存open block特性的测试方法，其特征在于：本方法的实施步骤为：

S01）、选取NAND Flash中位置相近的N组blocks，编号1、2、3、…、n-1、n，n为大于或者等于2的正整数；

S02）、根据block的字线数量M，计算出每次需要写入的字线数量m，m=M/(N-1)；

S03）、将编号为1的block组，从字线0开始写入m个字线，将编号为2的block组写满数据，等待一段时间T，将编号为1的block组从字线m开始写入m个字线，将编号为3的block组写满数据，等待一段时间T，将编号为1的block组从字线2m开始写入m个字线，将编号为4的block组写满数据，等待一段时间T，重复上述过程，完成N组block的写入后等待时间T；

S04）、读取编号为1的block组的字线0到字线m获得错误位数分布情况P1[0,m)，读取编号为2的block组的字线0到字线m获得错误位数分布情况P2[0,m)，读取编号为1的block组的字线m到字线2m获得错误位数分布情况P1[m,2m)，读取编号为3的block组的字线m到字线2m获得错误位数分布情况P3[m,2m)，重复上述过程，直至读取编号为1的block组的字线(n-2)m到字线(n-1)m获得错误位数分布情况P1[(n-2)m,(n-1)m)，读取编号为n的block组的字线(n-2)m到字线(n-1)m获得错误位数分布情况Pn[(n-2)m,(n-1)m)；

S05）、将获取到的P1[0,m)与P2[0,m)对比，P1[m,2m)与P3[m,2m)对比，依次向后，P1[(n-2)m,(n-1)m)与Pn[(n-2)m,(n-1)m)，得到open block连续使用过程中，不同阶段的数据错误位数与close block的对比情况。

3.根据权利要求2所述的闪存open block特性的测试方法，其特征在于：通过步骤S05的数据对比，得到原边缘字线的数据稳定性表现。

4.根据权利要求2所述的闪存open block特性的测试方法，其特征在于：通过调整T的大小得出多长时间内继续使用open block不会对数据稳定性产生影响。

5.根据权利要求2所述的闪存open block特性的测试方法，其特征在于：通过调整N的分组情况发现open block在哪些字线会导致继续使用会对数据稳定性影响较大。

6.根据权利要求2所述的闪存open block特性的测试方法，其特征在于：数据恢复时，选择错误位数最少的字线。