[发明专利]一种闪存open block特性的测试方法

说明书

本发明公开一种闪存open block特性的测试方法，属于闪存测试领域，本方法分阶段向block中写入数据，直至写满整个block，这样中间的每个阶段都是open block。每个阶段选取一组对照的block写满数据，通过对比数据的错误位数，得到每个阶段open block与close block的特性关系，根据这些特性可以进行对应的处理。本方法可以全面、快速的得到open block在使用过程中存在的前后数据稳定性不一致的特性。通过本方法得到的数据结果可以很容易的得出open block使用的间隔时间、open分组等信息，根据这些信息可以使处理open block变得容易。

技术领域

本发明涉及一种闪存测试方法，具体是一种闪存open block的测试方法。

背景技术

闪存NAND Flash的block未全部写满数据时，会存在部分字线（WL）的数据稳定性较差的特性表现，这种特性会导致这部分字线的数据读取错误。目前处理open block的一种手段是继续顺序写入部分字线关闭open block之后就不再使用，这会造成闪存容量的浪费。

发明内容

针对现有技术的缺陷，本发明提供一种闪存open block特性的测试方法，通过测试得到open block在关闭之后不同阶段数据的特性，根据特性表现进行分析处理，充分利用闪存的容量。

为了解决所述技术问题，本发明采用的技术方案是：一种闪存open block特性的测试方法，本方法分阶段向block中写入数据，直至写满整个block，这样中间的每个阶段都是open block，每个阶段选取一组对照的block写满数据，通过对比数据的错误位数，得到每个阶段open block与close block的特性关系。

进一步的，本方法的实施步骤为：

S01）、选取NAND Flash中位置相近的N组blocks，编号1、2、3、…、n-1、n，n为大于或者等于2的正整数；

S02）、根据block的字线数量M，计算出每次需要写入的字线数量m，m=M/(N-1)；

S03）、将编号为1的block组，从字线0开始写入m个字线，将编号为2的block组写满数据，等待一段时间T，将编号为1的block组从字线m开始写入m个字线，将编号为3的block组写满数据，等待一段时间T，将编号为1的block组从字线2m开始写入m个字线，将编号为4的block组写满数据，等待一段时间T，重复上述过程，完成N组block的写入后等待时间T；

S04）、读取编号为1的block组的字线0到字线m获得错误位数分布情况P1[0,m)，读取编号为2的block组的字线0到字线m获得错误位数分布情况P2[0,m)，读取编号为1的block组的字线m到字线2m获得错误位数分布情况P1[m,2m)，读取编号为3的block组的字线m到字线2m获得错误位数分布情况P3[m,2m)，重复上述过程，直至读取编号为1的block组的字线(n-2)m到字线(n-1)m获得错误位数分布情况P1[(n-2)m,(n-1)m)，读取编号为n的block组的字线(n-2)m到字线(n-1)m获得错误位数分布情况Pn[(n-2)m,(n-1)m)；

S05）、将获取到的P1[0,m)与P2[0,m)对比，P1[m,2m)与P3[m,2m)对比，依次向后，P1[(n-2)m,(n-1)m)与Pn[(n-2)m,(n-1)m)，得到open block连续使用过程中，不同阶段的数据错误位数与close block的对比情况。

进一步的，通过步骤S05的数据对比，得到原边缘字线的数据稳定性表现。

进一步的，通过调整T的大小得出多长时间内继续使用open block不会对数据稳定性产生影响。

进一步的，通过调整N的分组情况发现open block在哪些字线会导致继续使用会对数据稳定性影响较大。

进一步的，数据恢复时，选择错误位数最少的字线。