[发明专利]晶粒阵列缺陷检测方法、装置、设备及可读存储介质在审
| 申请号： | 202111192404.1 | 申请日： | 2021-10-13 |
| 公开（公告）号： | CN114037659A | 公开（公告）日： | 2022-02-11 |
| 发明（设计）人： | 吴奇峰;王建国;熊柏泰 | 申请（专利权）人： | 武汉精创电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00 |
| 代理公司： | 武汉智权专利代理事务所(特殊普通合伙) 42225 | 代理人： | 张凯 |
| 地址： | 430205 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明提供一种晶粒阵列缺陷检测方法、装置、设备及可读存储介质。该方法包括：确定若干取像区域，其中，相邻取像区域间存在重合部分，所述若干取像区域覆盖晶粒阵列；分别对每个取像区域进行拍摄，对拍摄得到的每帧图像进行缺陷检测，得到每帧图像对应的子检测结果；将所有的子检测结果合并，得到所述晶粒阵列的缺陷检测结果。通过本发明实现了对晶粒阵列进行自动化缺陷检测，提高了检测效率以及准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 晶粒 阵列 缺陷 检测 方法 装置 设备 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
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