[发明专利]一种铁电存储器及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202111121653.1 申请日: 2018-03-05
公开(公告)号: CN114050162A 公开(公告)日: 2022-02-15
发明(设计)人: 廖敏;刘晨;陈新;曾斌建;彭强祥;周益春 申请(专利权)人: 湘潭大学
主分类号: H01L27/1159 分类号: H01L27/1159;H01L29/51;H01L21/28
代理公司: 北京方圆嘉禾知识产权代理有限公司 11385 代理人: 程华
地址: 411105 湖*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明提供一种铁电存储器及其制备方法,涉及半导体技术领域,所述铁电存储器包括水平衬底,设置在所述水平衬底内的公共源极,所述水平衬底上表面至少设置两个阵列串,两个所述阵列串之间通过第一介质层隔开;所述阵列串包括垂直于所述水平衬底的柱型半导体区域,位于所述柱型半导体区域上的氧保护层和引线层,依此包裹所述柱型半导体区域的铁电薄膜层,缓冲层和与第二介质层相堆叠的控制栅电极;其中,所述引线层穿透所述氧保护层与所述柱型半导体区域的上表面接触。采用铁电薄膜存储介质替代浮栅电荷存储介质形成金属‑铁电‑绝缘‑半导体(MFIS)结构,可获得更低的工作电压,得到更高的反复擦写能力和良好的抗辐射能力。
搜索关键词: 一种 存储器 及其 制备 方法
【主权项】:
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