[发明专利]一种电子器件基材缺陷检测方法和装置在审
| 申请号： | 202110967522.9 | 申请日： | 2021-08-23 |
| 公开（公告）号： | CN113763334A | 公开（公告）日： | 2021-12-07 |
| 发明（设计）人： | 毕登科;朱亮 | 申请（专利权）人： | 南京继海电子信息科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/11;G06T7/136;G06K9/62;G06N3/04;G06N3/08 |
| 代理公司： | 南京泰普专利代理事务所(普通合伙) 32360 | 代理人： | 姜露露 |
| 地址： | 211100 江苏省南京市麒麟科技创*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种电子器件基材缺陷检测方法和装置，属于电子产品检测领域，所述方法包括：在待检测电子器件基材表面投射第一图像，并获取反射后的第二图像；将第二图像输入训练模型；所述训练模型通过多组训练数据得到，所述训练数据中的单组训练数据包括：用于训练的第二图像、预定的相似度评价标准；获得所述训练模型的输出信息，所述输出信息作为第一指标；判断所述第一指标是否大于第一阈值，若是输出待检测电子器件基材合格，反之输出待检测电子器件基材存在缺陷。本发明不仅能够有效的检测基材表面缺陷，无需对畸变图像进行重建，大大的降低了对计算机的算力要求，节省计算资源，提高了检测速率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电子器件 基材 缺陷 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
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