[发明专利]芯片测试夹具及芯片测试夹具组合有效
| 申请号： | 202110951867.5 | 申请日： | 2021-08-19 |
| 公开（公告）号： | CN113406485B | 公开（公告）日： | 2021-12-03 |
| 发明（设计）人： | 朱魏;龙华 | 申请（专利权）人： | 深圳飞骧科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京律和信知识产权代理事务所(普通合伙) 11446 | 代理人： | 武玉琴;何春晖 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区南头街*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请提供一种芯片测试夹具及芯片测试夹具组合。所述芯片测试夹具包括：EVB板，中央设置凹槽；一组测试接口，设置于所述EVB板上；数据传输接口，设置于所述EVB板上；一组电源接口，设置于所述EVB板上。相比传统的三块夹具而言，只需要一块芯片测试夹具即可获得去嵌文件，更方便快捷。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 夹具 组合 | ||
【主权项】：
暂无信息
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